調試主機登入失敗收集器

public class DebugHostLogOnFailureCollector
extends BaseDeviceMetricCollector

java.lang.Object
com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
com.android.tradefed.device.metric.DebugHostLogOnFailureCollector


當測試案例發生故障時,收集器將收集並記錄主機端日誌。

概括

公共構造函數

DebugHostLogOnFailureCollector ()

公共方法

void onTestFail ( DeviceMetricData testData, TestDescription test)

測試用例失敗時的回調。

void onTestRunStart ( DeviceMetricData runData)

測試運行開始時的回調。

公共構造函數

調試主機登入失敗收集器

public DebugHostLogOnFailureCollector ()

公共方法

測試失敗時

public void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

測試用例失敗時的回調。

參數
testData DeviceMetricData :儲存測試用例資料的DeviceMetricData

test TestDescription :正在進行的測試案例的TestDescription

測試運行開始時

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

測試運行開始時的回調。

參數
runData DeviceMetricData :儲存運行資料的DeviceMetricData