HostStatsdMetricCollector

public class HostStatsdMetricCollector
extends BaseDeviceMetricCollector

java.lang.Object
↳ com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
  ↳ com.android.tradefed.device.metric.HostStatsdMetricCollector

一个 IMetricCollector，用于使用 statsd 实用程序 命令从主机端收集 statsd 指标。它具有基本的推送指标和转储报告功能。子类可以根据需要对其进行扩展 ，以处理 statsd 指标报告。

摘要

公共构造函数

HostStatsdMetricCollector()

公共方法

void onTestEnd(DeviceMetricData testData, Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentTestCaseMetrics)

测试用例结束时的回调。

void onTestFail(DeviceMetricData testData, TestDescription test)

测试用例失败时的回调。

void onTestRunEnd(DeviceMetricData runData, Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentRunMetrics)

测试运行结束时的回调。

void onTestRunStart(DeviceMetricData runData)

测试运行开始时的回调。

void onTestStart(DeviceMetricData testData)

测试用例开始时的回调。

受保护的方法

void processStatsReport(ITestDevice device, InputStreamSource dataStream, DeviceMetricData runData)

子类可以根据需要实现该方法来处理 Statsd 指标报告。

公共构造函数

HostStatsdMetricCollector

public HostStatsdMetricCollector ()

公共方法

onTestEnd

public void onTestEnd (DeviceMetricData testData, 
                Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentTestCaseMetrics)

测试用例结束时的回调。此时应执行清理操作。

参数
testData DeviceMetricData：用于保存测试用例数据的 DeviceMetricData。将与 onTestStart(DeviceMetricData) 期间的对象相同。
currentTestCaseMetrics Map：传递给 testEnded(TestDescription,Map) 的当前指标映射。
抛出
DeviceNotAvailableException

onTestFail

public void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

测试用例失败时的回调。

参数
testData DeviceMetricData：用于保存测试用例数据的 DeviceMetricData。
test TestDescription：正在进行的测试用例的 TestDescription。

onTestRunEnd

public void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData, 
                Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentRunMetrics)

测试运行结束时的回调。此时应执行清理操作。

参数
runData DeviceMetricData：用于保存运行数据的 DeviceMetricData。将与 对象相同，与onTestRunStart(DeviceMetricData)期间相同。
currentRunMetrics Map：传递给 testRunEnded(long,Map) 的当前指标映射。
抛出
DeviceNotAvailableException

onTestRunStart

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

测试运行开始时的回调。

参数
runData DeviceMetricData：用于保存运行数据的 DeviceMetricData。
抛出
DeviceNotAvailableException

onTestStart

public void onTestStart (DeviceMetricData testData)

测试用例开始时的回调。

参数
testData DeviceMetricData：用于保存测试用例数据的 DeviceMetricData。
抛出
DeviceNotAvailableException

受保护的方法

processStatsReport

protected void processStatsReport (ITestDevice device, 
                InputStreamSource dataStream, 
                DeviceMetricData runData)

子类可以根据需要实现该方法来处理 Statsd 指标报告。它用于从特定设备获取指标报告

参数
device ITestDevice：从中获取 statsd 报告的测试设备
dataStream InputStreamSource：作为输入流的统计报告
runData DeviceMetricData：将存储已处理指标的目标位置