LogcatOnFailureCollector

public class LogcatOnFailureCollector
extends BaseDeviceMetricCollector

java.lang.Object
com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
  com.android.tradefed.device.metric.LogcatOnFailureCollector


テストケースまたはテスト実行が失敗したときにログキャットをキャプチャして記録するコレクタ。デフォルトの 収集が有効になっている場合は、指定されたレベルでホストログを収集します。

概要

パブリック コンストラクタ

LogcatOnFailureCollector()

パブリック メソッド

boolean captureModuleLevel()
void onTestEnd(DeviceMetricData testData, Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentTestCaseMetrics)

テストケースが終了したときのコールバック。

void onTestFail(DeviceMetricData testData, TestDescription test)

テストケースが失敗したときのコールバック。

void onTestModuleEnded()

モジュール終了イベントのキャプチャを許可します。

void onTestModuleStarted()

モジュール開始イベントのキャプチャを許可します。

void onTestRunEnd(DeviceMetricData runData, Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentRunMetrics)

テスト実行が終了したときのコールバック。

void onTestRunFailed(DeviceMetricData testData, FailureDescription failure)

testRunFailed イベントのコールバック

void onTestRunStart(DeviceMetricData runData)

テスト実行が開始されたときのコールバック。

void onTestRunStartBlocking()
void onTestStart(DeviceMetricData testData)

テストケースが開始されたときのコールバック。

保護されたメソッド

void collectAndLog(String testName, int size, IMetricCollector.MetricCollectionLevel level)

パブリック コンストラクタ

LogcatOnFailureCollector

public LogcatOnFailureCollector ()

パブリック メソッド

captureModuleLevel

public boolean captureModuleLevel ()

戻り値
boolean

onTestEnd

public void onTestEnd (DeviceMetricData testData, 
                Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentTestCaseMetrics)

テストケースが終了したときのコールバック。クリーンアップを行うタイミングです。

パラメータ
testData DeviceMetricData: テストケースのデータを保持する DeviceMetricData。 と同じオブジェクトになります。onTestStart(DeviceMetricData)

currentTestCaseMetrics Map: testEnded(TestDescription,Map) に渡される指標の現在のマップ。

例外
DeviceNotAvailableException

onTestFail

public void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

テストケースが失敗したときのコールバック。

パラメータ
testData DeviceMetricData:テストケースのデータを保持する DeviceMetricData

test TestDescription: 進行中のテストケースの TestDescription

例外
DeviceNotAvailableException

onTestModuleEnded

public void onTestModuleEnded ()

モジュール終了イベントのキャプチャを許可します。

例外
DeviceNotAvailableException

onTestModuleStarted

public void onTestModuleStarted ()

モジュール開始イベントのキャプチャを許可します。

例外
DeviceNotAvailableException

onTestRunEnd

public void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData, 
                Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentRunMetrics)

テスト実行が終了したときのコールバック。クリーンアップを行うタイミングです。

パラメータ
runData DeviceMetricData: 実行のデータを保持する DeviceMetricData。 と同じオブジェクトになります。onTestRunStart(DeviceMetricData)

currentRunMetrics Map: testRunEnded(long,Map) に渡される指標の現在のマップ。

例外
DeviceNotAvailableException

onTestRunFailed

public void onTestRunFailed (DeviceMetricData testData, 
                FailureDescription failure)

testRunFailed イベントのコールバック

例外
DeviceNotAvailableException

onTestRunStart

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

テスト実行が開始されたときのコールバック。

パラメータ
runData DeviceMetricData: 実行のデータを保持する DeviceMetricData

onTestRunStartBlocking

public void onTestRunStartBlocking ()

例外
DeviceNotAvailableException

onTestStart

public void onTestStart (DeviceMetricData testData)

テストケースが開始されたときのコールバック。

パラメータ
testData DeviceMetricData:テストケースのデータを保持する DeviceMetricData

保護されたメソッド

collectAndLog

protected void collectAndLog (String testName, 
                int size, 
                IMetricCollector.MetricCollectionLevel level)

パラメータ
testName String

size int

level IMetricCollector.MetricCollectionLevel

例外
DeviceNotAvailableException