LogcatOnFailureCollector 日誌收集器

public class LogcatOnFailureCollector
extends BaseDeviceMetricCollector

java.lang.Object
com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
com.android.tradefed.device.metric.LogcatOnFailureCollector


當測試用例失敗時,收集器將捕獲並記錄 logcat。

概括

公共構造函數

LogcatOnFailureCollector ()

公共方法

void onTestFail ( DeviceMetricData testData, TestDescription test)

測試用例失敗時的回調。

void onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics) onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)

測試運行結束時的回調。

void onTestRunFailed ( DeviceMetricData testData, FailureDescription failure)

testRunFailed 事件的回調

void onTestRunStart ( DeviceMetricData runData)

測試運行開始時的回調。

void onTestStart ( DeviceMetricData testData)

測試用例啟動時的回調。

受保護的方法

void collectAndLog (String testName, int size)

公共構造函數

LogcatOnFailureCollector 日誌收集器

public LogcatOnFailureCollector ()

公共方法

測試失敗時

public void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

測試用例失敗時的回調。

參數
testData DeviceMetricData :儲存測試用例資料的DeviceMetricData

test TestDescription :正在進行的測試案例的TestDescription

投擲
DeviceNotAvailableException

測試運行結束時

public void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData, 
                 currentRunMetrics)

測試運行結束時的回調。這應該是清理的時間。

參數
runData DeviceMetricData :儲存運行資料的DeviceMetricData 。將與onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)期間的物件相同。

currentRunMetrics :傳遞給ERROR(/#testRunEnded(long,Map))的目前指標映射。

測試運行失敗

public void onTestRunFailed (DeviceMetricData testData, 
                FailureDescription failure)

testRunFailed 事件的回調

投擲
DeviceNotAvailableException

測試運行開始時

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

測試運行開始時的回調。

參數
runData DeviceMetricData :儲存運行資料的DeviceMetricData

測試開始時

public void onTestStart (DeviceMetricData testData)

測試用例啟動時的回調。

參數
testData DeviceMetricData :儲存測試用例資料的DeviceMetricData

受保護的方法

收集並記錄

protected void collectAndLog (String testName, 
                int size)

參數
testName String

size int

投擲
DeviceNotAvailableException