ScreenRecordOnFailureCollector

public class ScreenRecordOnFailureCollector
extends BaseDeviceMetricCollector

java.lang.Object
   ↳ com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
     ↳ com.android.tradefed.device.metric.ScreenRecordOnFailureCollector

一种收集器，可在测试用例失败时捕获并记录屏幕录制内容。在测试运行期间，录制屏幕，直到测试结束。如果屏幕录制中断（例如设备重新启动或进行 root/取消 root 操作），请在设备可用时重试，直到测试结束。因此，一次测试可能会生成多个录制文件。

摘要

嵌套类

class ScreenRecordOnFailureCollector.LineCapturingOutputStream

 

公共构造函数

ScreenRecordOnFailureCollector()

公共方法

void onTestEnd(DeviceMetricData testData, Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentTestCaseMetrics)

测试用例结束时的回调。

void onTestFail(DeviceMetricData testData, TestDescription test)

测试用例失败时的回调。

void onTestRunStart(DeviceMetricData runData)

测试运行开始时的回调。

void onTestStart(DeviceMetricData runData)

测试用例开始时的回调。

公共构造函数

ScreenRecordOnFailureCollector

public ScreenRecordOnFailureCollector ()

公共方法

onTestEnd

public void onTestEnd (DeviceMetricData testData, 
                Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentTestCaseMetrics)

测试用例结束时的回调。此时应执行清理操作。

参数
testData DeviceMetricData：用于保存测试用例数据的 DeviceMetricData。将与 onTestStart(DeviceMetricData) 期间的对象相同。
currentTestCaseMetrics Map：传递给 testEnded(TestDescription,Map) 的当前指标映射。
抛出
DeviceNotAvailableException

onTestFail

public void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

测试用例失败时的回调。

参数
testData DeviceMetricData：用于保存测试用例数据的 DeviceMetricData。
test TestDescription：正在进行的测试用例的 TestDescription。
抛出
DeviceNotAvailableException

onTestRunStart

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

测试运行开始时的回调。

参数
runData DeviceMetricData：用于保存运行数据的 DeviceMetricData。

onTestStart

public void onTestStart (DeviceMetricData runData)

测试用例开始时的回调。

参数
runData DeviceMetricData：用于保存测试用例数据的 DeviceMetricData。
抛出
DeviceNotAvailableException