ScreenRecordOnFailureCollector

public class ScreenRecordOnFailureCollector
extends BaseDeviceMetricCollector

java.lang.Object
   ↳ com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
     ↳ com.android.tradefed.device.metric.ScreenRecordOnFailureCollector

收集器會在測試案例失敗時擷取並記錄螢幕錄影。測試執行期間，請錄製螢幕畫面，直到測試結束為止。如果螢幕錄影作業中斷 (例如裝置重新啟動或進行 Root/解除 Root)，請在裝置可用時重試，直到測試結束為止。因此，單一測試可能會產生多個錄製檔案。

摘要

巢狀類別

class ScreenRecordOnFailureCollector.LineCapturingOutputStream

 

公用建構函式

ScreenRecordOnFailureCollector()

公用方法

void onTestEnd(DeviceMetricData testData, Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentTestCaseMetrics)

測試案例結束時的回呼。

void onTestFail(DeviceMetricData testData, TestDescription test)

測試案例失敗時的回呼。

void onTestRunStart(DeviceMetricData runData)

測試執行開始時的回呼。

void onTestStart(DeviceMetricData runData)

測試案例啟動時的回呼。

公用建構函式

ScreenRecordOnFailureCollector

public ScreenRecordOnFailureCollector ()

公用方法

onTestEnd

public void onTestEnd (DeviceMetricData testData, 
                Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentTestCaseMetrics)

測試案例結束時的回呼。這時應進行清理。

參數
testData DeviceMetricData：保存測試案例資料的 DeviceMetricData。與 onTestStart(DeviceMetricData) 期間的物件相同。
currentTestCaseMetrics Map：傳遞至 testEnded(TestDescription,Map) 的指標目前對應。
擲回
DeviceNotAvailableException

onTestFail

public void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

測試案例失敗時的回呼。

參數
testData DeviceMetricData：保存測試案例資料的 DeviceMetricData。
test TestDescription：進行中測試案例的 TestDescription。
擲回
DeviceNotAvailableException

onTestRunStart

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

測試執行開始時的回呼。

參數
runData DeviceMetricData：DeviceMetricData，其中包含執行作業的資料。

onTestStart

public void onTestStart (DeviceMetricData runData)

測試案例啟動時的回呼。

參數
runData DeviceMetricData：保存測試案例資料的 DeviceMetricData。
擲回
DeviceNotAvailableException