ITargetPreparer

public interface ITargetPreparer
implements IDisableable

com.android.tradefed.targetprep.ITargetPreparer

เตรียมสภาพแวดล้อมการทดสอบสําหรับการทดสอบ

เช่น ติดตั้งซอฟต์แวร์ ปรับการตั้งค่าสภาพแวดล้อมสําหรับการทดสอบ เปิดใช้งานเป้าหมาย ฯลฯ

โปรดทราบว่าคุณระบุ ITargetPreparer หลายรายการได้ในการกำหนดค่า ขอแนะนำให้ ITargetPreparer แต่ละรายการบันทึกสภาพแวดล้อมก่อนและหลังการตั้งค่าที่คาดไว้อย่างชัดเจน เช่น ITargetPreparer ที่กําหนดค่าอุปกรณ์สําหรับการทดสอบต้องเรียกใช้หลังจาก ITargetPreparer ที่ติดตั้งซอฟต์แวร์

สรุป

เมธอดสาธารณะ

default void setUp(ITestDevice device, IBuildInfo buildInfo)

เราเลิกใช้งานเมธอดนี้แล้ว ใช้ setUp(com.android.tradefed.invoker.TestInformation) แทน

default void setUp(TestInformation testInformation)

ตั้งค่าเป้าหมายสําหรับการทดสอบ

default void tearDown(TestInformation testInformation, Throwable e)

ทําการล้าง/รื้อถอนเป้าหมายหลังจากการทดสอบ

default void tearDown(ITestDevice device, IBuildInfo buildInfo, Throwable e)

เราเลิกใช้งานเมธอดนี้แล้ว ใช้ tearDown(com.android.tradefed.invoker.TestInformation, Throwable) แทน

เมธอดสาธารณะ

setUp

public void setUp (ITestDevice device, 
                IBuildInfo buildInfo)

วิธีการนี้เลิกใช้งานแล้ว
ใช้ setUp(com.android.tradefed.invoker.TestInformation) แทน

ตั้งค่าเป้าหมายสําหรับการทดสอบ

พารามิเตอร์
device ITestDevice: ITestDevice ที่จะเตรียม
buildInfo IBuildInfo: ข้อมูลเกี่ยวกับบิลด์ที่ทดสอบ
โยน
TargetSetupError if fatal error occurred setting up environment
BuildError หากเกิดข้อผิดพลาดเกี่ยวกับ BuildInfo
DeviceNotAvailableException หากอุปกรณ์ไม่ตอบสนอง

setUp

public void setUp (TestInformation testInformation)

ตั้งค่าเป้าหมายสําหรับการทดสอบ

พารามิเตอร์
testInformation TestInformation: TestInformation ของการเรียกใช้
โยน
TargetSetupError if fatal error occurred setting up environment
BuildError หากเกิดข้อผิดพลาดเนื่องจากกำลังเตรียมบิลด์
DeviceNotAvailableException หากอุปกรณ์ไม่ตอบสนอง

tearDown

public void tearDown (TestInformation testInformation, 
                Throwable e)

ทําการล้าง/รื้อถอนเป้าหมายหลังจากการทดสอบ

พารามิเตอร์
testInformation TestInformation: TestInformation ของการเรียกใช้
e Throwable: หากการเรียกใช้สิ้นสุดด้วยข้อยกเว้น ข้อยกเว้นนี้จะเป็นข้อยกเว้นที่พบในระดับการเรียกใช้ มิเช่นนั้นจะเป็น null
โยน
DeviceNotAvailableException หากอุปกรณ์ไม่ตอบสนอง

tearDown

public void tearDown (ITestDevice device, 
                IBuildInfo buildInfo, 
                Throwable e)

วิธีการนี้เลิกใช้งานแล้ว
ใช้ tearDown(com.android.tradefed.invoker.TestInformation, Throwable) แทน

ทําการล้าง/รื้อถอนเป้าหมายหลังจากการทดสอบ

พารามิเตอร์
device ITestDevice: ITestDevice ที่จะเตรียม
buildInfo IBuildInfo: ข้อมูลเกี่ยวกับบิลด์ที่ทดสอบ
e Throwable: หากการเรียกใช้สิ้นสุดด้วยข้อยกเว้น ข้อยกเว้นนี้จะเป็นข้อยกเว้นที่พบในระดับการเรียกใช้ มิเช่นนั้นจะเป็น null
โยน
DeviceNotAvailableException หากอุปกรณ์ไม่ตอบสนอง