自動登錄失敗收集
透過集合功能整理內容
你可以依據偏好儲存及分類內容。
在調試測試時,總是需要一組日誌來了解故障和被測設備的基本情況。來源包括:Logcat、Tradefed 主機日誌、截圖等。
為了讓任何測試編寫者都能輕鬆地獲取這些日誌,Tradefed 有一個內置機制來幫助收集它們。
配置
要在失敗時自動收集一些日誌,您可以在 Tradefed 命令行中添加以下選項:
--auto-collect LOGCAT_ON_FAILURE
or
--auto-collect SCREENSHOT_ON_FAILURE
要查看可能值的完整列表,請查看AutoLogCollector
為方便起見,logcat 和 screenshot 都有一個直接標誌:
--logcat-on-failure
and
--screenshot-on-failure
套件模塊注意事項 (AndroidTest.xml)
模塊不能在AndroidTest.xml
中直接指定此選項,但它們可以使用模塊控制器。
這個頁面中的內容和程式碼範例均受《內容授權》中的授權所規範。Java 與 OpenJDK 是 Oracle 和/或其關係企業的商標或註冊商標。
上次更新時間:2022-06-06 (世界標準時間)。
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