IMetricCollector
public
interface
IMetricCollector
implements
IDisableable,
ILogSaverListener
| com.android.tradefed.device.metric.IMetricCollector |
在回報測試結果時,系統會將此介面新增為修飾符,以便收集相符的指標。
即使此介面會延伸 ITestInvocationListener,也無法用於
收集器不應保留內部狀態,因為收集器可能會在多個位置重複使用。如果真的需要使用內部狀態,請在 init(com.android.tradefed.invoker.IInvocationContext, com.android.tradefed.result.ITestInvocationListener) 上清除。
摘要
公用方法 | |
|---|---|
default
boolean
|
captureModuleLevel()
收集器是否適用於模組層級擷取,以及是否應初始化。 |
abstract
|
getBuildInfos()
傳回可在叫用中使用的建構資訊清單。 |
abstract
|
getDevices()
傳回可在喚起動作中使用的裝置清單。 |
abstract
ITestInvocationListener
|
getInvocationListener()
傳回原始的 |
abstract
ITestInvocationListener
|
init(IInvocationContext context, ITestInvocationListener listener)
使用目前的內容和轉送結果的位置,初始化收集器。 |
abstract
void
|
onTestAssumptionFailure(DeviceMetricData testData, TestDescription test)
當測試案例因假設失敗而失敗時的回呼。 |
abstract
void
|
onTestEnd(DeviceMetricData testData,
測試案例結束時的回呼。 |
abstract
void
|
onTestEnd(DeviceMetricData testData,
測試案例結束時的回呼。 |
abstract
void
|
onTestFail(DeviceMetricData testData, TestDescription test)
測試案例失敗時的回呼。 |
default
void
|
onTestModuleEnded()
可擷取模組結束事件。 |
default
void
|
onTestModuleStarted()
可擷取模組啟動事件。 |
abstract
void
|
onTestRunEnd(DeviceMetricData runData,
測試結束時的回呼。 |
abstract
void
|
onTestRunStart(DeviceMetricData runData)
開始執行測試時的回呼。 |
default
void
|
onTestRunStart(DeviceMetricData runData, int testCount)
開始執行測試時的回呼。 |
abstract
void
|
onTestStart(DeviceMetricData testData)
測試案例啟動時的回呼。 |
公用方法
captureModuleLevel
public boolean captureModuleLevel ()
收集器是否適用於模組層級擷取,以及是否應初始化。
| 傳回 | |
|---|---|
boolean |
|
getBuildInfos
public abstractgetBuildInfos ()
傳回可在叫用中使用的建構資訊清單。
| 傳回 | |
|---|---|
|
|
getDevices
public abstractgetDevices ()
傳回喚起動作中可用的裝置清單。
| 傳回 | |
|---|---|
|
|
getInvocationListener
public abstract ITestInvocationListener getInvocationListener ()
傳回原始的 ITestInvocationListener,我們會將結果轉寄至該處。
| 傳回 | |
|---|---|
ITestInvocationListener |
|
init
public abstract ITestInvocationListener init (IInvocationContext context, ITestInvocationListener listener)
使用目前的內容和轉送結果的位置,初始化收集器。每個例項只會呼叫一次,且收集器應會更新其內部內容和事件監聽器。在測試執行期間,系統一律不會呼叫初始化。
除非您知道自己在做什麼,否則請勿覆寫。
| 參數 | |
|---|---|
context |
IInvocationContext:正在進行叫用作業的 IInvocationContext。 |
listener |
ITestInvocationListener:放置結果的 ITestInvocationListener。 |
| 傳回 | |
|---|---|
ITestInvocationListener |
新的事件監聽器會包裝原始事件監聽器。 |
| 擲回 | |
|---|---|
DeviceNotAvailableException |
|
onTestAssumptionFailure
public abstract void onTestAssumptionFailure (DeviceMetricData testData, TestDescription test)
當測試案例因假設失敗而失敗時的回呼。
| 參數 | |
|---|---|
testData |
DeviceMetricData:保留測試案例資料的 DeviceMetricData。 |
test |
TestDescription:進行中的測試案例 TestDescription。 |
| 擲回 | |
|---|---|
DeviceNotAvailableException |
|
onTestEnd
public abstract void onTestEnd (DeviceMetricData testData,currentTestCaseMetrics, TestDescription test)
測試案例結束時的回呼。這時應該要清理了。
| 參數 | |
|---|---|
testData |
DeviceMetricData:保留測試案例資料的 DeviceMetricData。會是 onTestStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData) 期間的相同物件。 |
currentTestCaseMetrics |
:傳遞至 ERROR(/#testEnded(com.android.tradefed.result.TestDescription,Map)) 的目前指標對應項目。 |
test |
TestDescription:進行中的測試案例 TestDescription。 |
| 擲回 | |
|---|---|
DeviceNotAvailableException |
|
onTestEnd
public abstract void onTestEnd (DeviceMetricData testData,currentTestCaseMetrics)
測試案例結束時的回呼。這時應該要清理了。
| 參數 | |
|---|---|
testData |
DeviceMetricData:保留測試案例資料的 DeviceMetricData。會是 onTestStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData) 期間的相同物件。 |
currentTestCaseMetrics |
:傳遞至 ERROR(/#testEnded(com.android.tradefed.result.TestDescription,Map)) 的目前指標對應項目。 |
| 擲回 | |
|---|---|
DeviceNotAvailableException |
|
onTestFail
public abstract void onTestFail (DeviceMetricData testData, TestDescription test)
測試案例失敗時的回呼。
| 參數 | |
|---|---|
testData |
DeviceMetricData:保留測試案例資料的 DeviceMetricData。 |
test |
TestDescription:進行中的測試案例 TestDescription。 |
| 擲回 | |
|---|---|
DeviceNotAvailableException |
|
onTestModuleEnded
public void onTestModuleEnded ()
可擷取模組結束事件。
| 擲回 | |
|---|---|
|
com.android.tradefed.device.DeviceNotAvailableException |
DeviceNotAvailableException |
|
onTestModuleStarted
public void onTestModuleStarted ()
可擷取模組啟動事件。
| 擲回 | |
|---|---|
|
com.android.tradefed.device.DeviceNotAvailableException |
DeviceNotAvailableException |
|
onTestRunEnd
public abstract void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData,currentRunMetrics)
測試結束時的回呼。這時應該要清理了。
| 參數 | |
|---|---|
runData |
DeviceMetricData:儲存執行作業資料的 DeviceMetricData。會與 onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData) 期間相同的物件。 |
currentRunMetrics |
:傳遞至 ERROR(/#testRunEnded(long,Map)) 的目前指標對應項目。 |
| 擲回 | |
|---|---|
DeviceNotAvailableException |
|
onTestRunStart
public abstract void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)
開始測試時的回呼。
| 參數 | |
|---|---|
runData |
DeviceMetricData:儲存執行作業資料的 DeviceMetricData。 |
| 擲回 | |
|---|---|
DeviceNotAvailableException |
|
onTestRunStart
public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData, int testCount)
開始測試時的回呼。
| 參數 | |
|---|---|
runData |
DeviceMetricData:儲存執行作業資料的 DeviceMetricData。 |
testCount |
int:這個測試執行作業中的測試案例數量。 |
| 擲回 | |
|---|---|
DeviceNotAvailableException |
|
onTestStart
public abstract void onTestStart (DeviceMetricData testData)
測試案例啟動時的回呼。
| 參數 | |
|---|---|
testData |
DeviceMetricData:保留測試案例資料的 DeviceMetricData。 |
| 擲回 | |
|---|---|
DeviceNotAvailableException |
|