LogcatTimingMetricCollector

public class LogcatTimingMetricCollector
extends BaseDeviceMetricCollector

java.lang.Object
↳ com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
↳ com.android.tradefed.device.metric.LogcatTimingMetricCollector

Сборщик метрик, который собирает информацию о времени (например, время переключения пользователя) из logcat во время одного или нескольких повторяющихся тестов, используя заданные шаблоны регулярных выражений для анализа сигналов начала и конца события из строк logcat.

Краткое содержание

Государственные строители

LogcatTimingMetricCollector ()

Общедоступные методы

void onTestEnd ( DeviceMetricData testData, Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentTestCaseMetrics)

Функция обратного вызова, которая срабатывает по завершении тестового случая.

void onTestFail ( DeviceMetricData testData, TestDescription test)

Функция обратного вызова, которая срабатывает при неудачном выполнении тестового случая.

void onTestRunEnd ( DeviceMetricData testData, Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentTestCaseMetrics)

Функция обратного вызова, которая срабатывает по завершении тестового запуска.

void onTestRunStart ( DeviceMetricData testData)

Функция обратного вызова, которая срабатывает при запуске тестового запуска.

void onTestStart ( DeviceMetricData testData)

Функция обратного вызова, которая срабатывает при запуске тестового случая.

Государственные строители

LogcatTimingMetricCollector 

public LogcatTimingMetricCollector ()

Общедоступные методы

onTestEnd 

public void onTestEnd (DeviceMetricData testData, 
                Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentTestCaseMetrics)

Функция обратного вызова, которая срабатывает по завершении тестового случая. В этот момент следует выполнить очистку ресурсов.

Параметры
testData DeviceMetricData : объект DeviceMetricData , содержащий данные для тестового случая. Будет тем же объектом, что и во время onTestStart(DeviceMetricData) .

currentTestCaseMetrics Map : текущая карта метрик, переданных в testEnded(TestDescription,Map) .

onTestFail 

public void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

Функция обратного вызова, которая срабатывает при неудачном выполнении тестового случая.

Параметры
testData DeviceMetricData : объект DeviceMetricData , содержащий данные для тестового случая.

test TestDescription : TestDescription текущего тестового случая.

onTestRunEnd 

public void onTestRunEnd (DeviceMetricData testData, 
                Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentTestCaseMetrics)

Функция обратного вызова, которая срабатывает по завершении тестового запуска. В этот момент следует выполнить очистку ресурсов.

Параметры
testData DeviceMetricData : объект DeviceMetricData , содержащий данные для выполнения теста. Будет тем же объектом, что и во время onTestRunStart(DeviceMetricData) .

currentTestCaseMetrics Map : текущая карта метрик, переданных в testRunEnded(long,Map) .

onTestRunStart 

public void onTestRunStart (DeviceMetricData testData)

Функция обратного вызова, которая срабатывает при запуске тестового запуска.

Параметры
testData DeviceMetricData : объект DeviceMetricData , содержащий данные о ходе выполнения.

Броски
DeviceNotAvailableException

onTestStart 

public void onTestStart (DeviceMetricData testData)

Функция обратного вызова, которая срабатывает при запуске тестового случая.

Параметры
testData DeviceMetricData : объект DeviceMetricData , содержащий данные для тестового случая.

Броски
DeviceNotAvailableException