ScreenshotOnFailureCollector

public class ScreenshotOnFailureCollector
extends BaseDeviceMetricCollector

java.lang.Object
com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
  com.android.tradefed.device.metric.ScreenshotOnFailureCollector


Collecteur qui capture et consigne une capture d'écran lorsqu'un cas de test échoue. Si la collecte par défaut est activée, il collecte la capture d'écran aux niveaux spécifiés.

Résumé

Constructeurs publics

ScreenshotOnFailureCollector()

Méthodes publiques

boolean captureModuleLevel()
void onTestEnd(DeviceMetricData testData, Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentTestCaseMetrics)

Rappel lorsqu'un cas de test est terminé.

void onTestFail(DeviceMetricData testData, TestDescription test)

Rappel lorsqu'un cas de test échoue.

void onTestModuleEnded()

Permet de capturer l'événement de fin de module.

void onTestRunEnd(DeviceMetricData runData, Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentRunMetrics)

Rappel lorsqu'une exécution de test est terminée.

void onTestRunFailed(DeviceMetricData testData, FailureDescription failure)

Rappel pour les événements testRunFailed

void onTestRunStart(DeviceMetricData runData)

Rappel lorsqu'une exécution de test est démarrée.

void onTestStart(DeviceMetricData testData)

Rappel lorsqu'un cas de test est démarré.

Constructeurs publics

ScreenshotOnFailureCollector

public ScreenshotOnFailureCollector ()

Méthodes publiques

captureModuleLevel

public boolean captureModuleLevel ()

Renvoie
boolean

onTestEnd

public void onTestEnd (DeviceMetricData testData, 
                Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentTestCaseMetrics)

Rappel lorsqu'un cas de test est terminé. Il s'agit du moment de libérer de l'espace.

Paramètres
testData DeviceMetricData : DeviceMetricData contenant les données du cas de test. Il s'agit du même objet que lors de onTestStart(DeviceMetricData).

currentTestCaseMetrics Map : carte actuelle des métriques transmises à testEnded(TestDescription,Map).

Génère
DeviceNotAvailableException

onTestFail

public void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

Rappel lorsqu'un cas de test échoue.

Paramètres
testData DeviceMetricData : DeviceMetricData contenant les données du cas de test.

test TestDescription : TestDescription du cas de test en cours.

Génère
DeviceNotAvailableException

onTestModuleEnded

public void onTestModuleEnded ()

Permet de capturer l'événement de fin de module.

Génère
DeviceNotAvailableException

onTestRunEnd

public void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData, 
                Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentRunMetrics)

Rappel lorsqu'une exécution de test est terminée. Il s'agit du moment de libérer de l'espace.

Paramètres
runData DeviceMetricData : DeviceMetricData contenant les données de l'exécution. Il s'agit du même objet que lors de onTestRunStart(DeviceMetricData).

currentRunMetrics Map : carte actuelle des métriques transmises à testRunEnded(long,Map).

Génère
DeviceNotAvailableException

onTestRunFailed

public void onTestRunFailed (DeviceMetricData testData, 
                FailureDescription failure)

Rappel pour les événements testRunFailed

Génère
DeviceNotAvailableException

onTestRunStart

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

Rappel lorsqu'une exécution de test est démarrée.

Paramètres
runData DeviceMetricData : DeviceMetricData contenant les données de l'exécution.

onTestStart

public void onTestStart (DeviceMetricData testData)

Rappel lorsqu'un cas de test est démarré.

Paramètres
testData DeviceMetricData : DeviceMetricData contenant les données du cas de test.

Génère
DeviceNotAvailableException