ScreenshotOnFailureCollector
public
class
ScreenshotOnFailureCollector
extends BaseDeviceMetricCollector
| java.lang.Object | ||
| ↳ | com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector | |
| ↳ | com.android.tradefed.device.metric.ScreenshotOnFailureCollector | |
收集器，會在測試案例失敗時擷取並記錄螢幕截圖。如果啟用預設收集功能，系統就會在指定層級收集螢幕截圖。
摘要
公用建構函式 | |
|---|---|
ScreenshotOnFailureCollector()
|
|
公用方法 | |
|---|---|
boolean
|
captureModuleLevel()
|
void
|
onTestEnd(DeviceMetricData testData, Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentTestCaseMetrics)
測試案例結束時的回呼。 |
void
|
onTestFail(DeviceMetricData testData, TestDescription test)
測試案例失敗時的回呼。 |
void
|
onTestModuleEnded()
允許擷取模組結束事件。 |
void
|
onTestRunEnd(DeviceMetricData runData, Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentRunMetrics)
測試作業結束時的回呼。 |
void
|
onTestRunFailed(DeviceMetricData testData, FailureDescription failure)
測試執行失敗事件的回呼 |
void
|
onTestRunStart(DeviceMetricData runData)
測試執行開始時的回呼。 |
void
|
onTestStart(DeviceMetricData testData)
測試案例啟動時的回呼。 |
公用建構函式
ScreenshotOnFailureCollector
public ScreenshotOnFailureCollector ()
公用方法
captureModuleLevel
public boolean captureModuleLevel ()
| 傳回 | |
|---|---|
boolean |
|
onTestEnd
public void onTestEnd (DeviceMetricData testData, Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentTestCaseMetrics)
測試案例結束時的回呼。這時應進行清理。
| 參數 | |
|---|---|
testData |
DeviceMetricData：保存測試案例資料的 DeviceMetricData。與 onTestStart(DeviceMetricData) 期間的物件相同。 |
currentTestCaseMetrics |
Map：傳遞至 testEnded(TestDescription,Map) 的指標目前對應。 |
| 擲回 | |
|---|---|
DeviceNotAvailableException |
|
onTestFail
public void onTestFail (DeviceMetricData testData, TestDescription test)
測試案例失敗時的回呼。
| 參數 | |
|---|---|
testData |
DeviceMetricData：保存測試案例資料的 DeviceMetricData。 |
test |
TestDescription：進行中測試案例的 TestDescription。 |
| 擲回 | |
|---|---|
DeviceNotAvailableException |
|
onTestRunEnd
public void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData, Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentRunMetrics)
測試作業結束時的回呼。這時應進行清理。
| 參數 | |
|---|---|
runData |
DeviceMetricData：DeviceMetricData，其中包含執行作業的資料。與 onTestRunStart(DeviceMetricData) 期間的物件相同。 |
currentRunMetrics |
Map：傳遞至 testRunEnded(long,Map) 的指標目前對應。 |
| 擲回 | |
|---|---|
DeviceNotAvailableException |
|
onTestRunFailed
public void onTestRunFailed (DeviceMetricData testData, FailureDescription failure)
testRunFailed 事件的回呼
| 擲回 | |
|---|---|
DeviceNotAvailableException |
|
onTestRunStart
public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)
測試執行開始時的回呼。
| 參數 | |
|---|---|
runData |
DeviceMetricData：DeviceMetricData，其中包含執行作業的資料。 |
onTestStart
public void onTestStart (DeviceMetricData testData)
測試案例啟動時的回呼。
| 參數 | |
|---|---|
testData |
DeviceMetricData：保存測試案例資料的 DeviceMetricData。 |
| 擲回 | |
|---|---|
DeviceNotAvailableException |
|