ScreenshotOnFailureCollector

public class ScreenshotOnFailureCollector
extends BaseDeviceMetricCollector

java.lang.Object
com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
  com.android.tradefed.device.metric.ScreenshotOnFailureCollector


テストケースが失敗したときにスクリーンショットをキャプチャしてログに記録するコレクタ。デフォルトの収集が 有効になっている場合は、指定されたレベルでスクリーンショットを収集します。

概要

パブリック コンストラクタ

ScreenshotOnFailureCollector()

パブリック メソッド

boolean captureModuleLevel()
void onTestEnd(DeviceMetricData testData, Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentTestCaseMetrics)

テストケースが終了したときのコールバック。

void onTestFail(DeviceMetricData testData, TestDescription test)

テストケースが失敗したときのコールバック。

void onTestModuleEnded()

モジュール終了イベントのキャプチャを許可します。

void onTestRunEnd(DeviceMetricData runData, Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentRunMetrics)

テスト実行が終了したときのコールバック。

void onTestRunFailed(DeviceMetricData testData, FailureDescription failure)

testRunFailed イベントのコールバック

void onTestRunStart(DeviceMetricData runData)

テスト実行が開始されたときのコールバック。

void onTestStart(DeviceMetricData testData)

テストケースが開始されたときのコールバック。

パブリック コンストラクタ

ScreenshotOnFailureCollector

public ScreenshotOnFailureCollector ()

パブリック メソッド

captureModuleLevel

public boolean captureModuleLevel ()

戻り値
boolean

onTestEnd

public void onTestEnd (DeviceMetricData testData, 
                Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentTestCaseMetrics)

テストケースが終了したときのコールバック。クリーンアップを行うタイミングです。

パラメータ
testData DeviceMetricData: テストケースのデータを保持する DeviceMetricData。 と同じオブジェクトになります。onTestStart(DeviceMetricData)

currentTestCaseMetrics Map: testEnded(TestDescription,Map) に渡される指標の現在のマップ。

例外
DeviceNotAvailableException

onTestFail

public void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

テストケースが失敗したときのコールバック。

パラメータ
testData DeviceMetricData:テストケースのデータを保持する DeviceMetricData

test TestDescription: 進行中のテストケースの TestDescription

例外
DeviceNotAvailableException

onTestModuleEnded

public void onTestModuleEnded ()

モジュール終了イベントのキャプチャを許可します。

例外
DeviceNotAvailableException

onTestRunEnd

public void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData, 
                Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentRunMetrics)

テスト実行が終了したときのコールバック。クリーンアップを行うタイミングです。

パラメータ
runData DeviceMetricData: 実行のデータを保持する DeviceMetricData。 と同じオブジェクトになります。onTestRunStart(DeviceMetricData)

currentRunMetrics Map: testRunEnded(long,Map) に渡される指標の現在のマップ。

例外
DeviceNotAvailableException

onTestRunFailed

public void onTestRunFailed (DeviceMetricData testData, 
                FailureDescription failure)

testRunFailed イベントのコールバック

例外
DeviceNotAvailableException

onTestRunStart

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

テスト実行が開始されたときのコールバック。

パラメータ
runData DeviceMetricData: 実行のデータを保持する DeviceMetricData

onTestStart

public void onTestStart (DeviceMetricData testData)

テストケースが開始されたときのコールバック。

パラメータ
testData DeviceMetricData:テストケースのデータを保持する DeviceMetricData

例外
DeviceNotAvailableException