Atrace收集器

public class AtraceCollector
extends BaseDeviceMetricCollector

java.lang.Object
com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
com.android.tradefed.device.metric.AtraceCollector


IMetricCollector在測試期間執行 atrace 並收集結果並將其記錄到呼叫中。

概括

公共構造函數

AtraceCollector ()

公共方法

void onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics, TestDescription test) onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics, TestDescription test)

測試用例結束時的回調。

void onTestStart ( DeviceMetricData testData)

測試用例啟動時的回調。

受保護的方法

String fullLogPath ()
LogDataType getLogType ()
void startTracing ( ITestDevice device)
void stopTracing ( ITestDevice device)

公共構造函數

Atrace收集器

public AtraceCollector ()

公共方法

測試結束時

public void onTestEnd (DeviceMetricData testData, 
                 currentTestCaseMetrics, 
                TestDescription test)

測試用例結束時的回調。這應該是清理的時間。

參數
testData DeviceMetricData :儲存測試用例資料的DeviceMetricData 。將與onTestStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)期間的物件相同。

currentTestCaseMetrics :傳遞給ERROR(/#testEnded(com.android.tradefed.result.TestDescription,Map))的目前指標映射。

test TestDescription :正在進行的測試案例的TestDescription

投擲
DeviceNotAvailableException

測試開始時

public void onTestStart (DeviceMetricData testData)

測試用例啟動時的回調。

參數
testData DeviceMetricData :儲存測試用例資料的DeviceMetricData

投擲
DeviceNotAvailableException

受保護的方法

完整日誌路徑

protected String fullLogPath ()

退貨
String

取得日誌類型

protected LogDataType getLogType ()

退貨
LogDataType

開始追蹤

protected void startTracing (ITestDevice device)

參數
device ITestDevice

投擲
DeviceNotAvailableException

停止追蹤

protected void stopTracing (ITestDevice device)

參數
device ITestDevice

投擲
DeviceNotAvailableException