AtraceCollector

public class AtraceCollector
extends BaseDeviceMetricCollector

java.lang.Object
   ↳ com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
     ↳ com.android.tradefed.device.metric.AtraceCollector


在测试期间运行 atrace 并收集结果,并将其记录到调用中的 IMetricCollector

摘要

公共构造函数

AtraceCollector()

公共方法

void onTestEnd(DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics, TestDescription test)

测试用例结束时的回调。

void onTestStart(DeviceMetricData testData)

测试用例启动时的回调。

受保护的方法

String fullLogPath()
LogDataType getLogType()
void startTracing(ITestDevice device)
void stopTracing(ITestDevice device)

公共构造函数

AtraceCollector

public AtraceCollector ()

公共方法

onTestEnd

public void onTestEnd (DeviceMetricData testData, 
                 currentTestCaseMetrics, 
                TestDescription test)

测试用例结束时的回调。现在应该是清理时间了。

参数
testData DeviceMetricData:用于存储测试用例数据的 DeviceMetricData。将与 onTestStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData) 期间相同的对象。

currentTestCaseMetrics :传递给 ERROR(/#testEnded(com.android.tradefed.result.TestDescription,Map)) 的当前指标映射。

test TestDescription:正在进行的测试用例的 TestDescription

抛出
DeviceNotAvailableException

onTestStart

public void onTestStart (DeviceMetricData testData)

测试用例启动时的回调。

参数
testData DeviceMetricData:用于存储测试用例数据的 DeviceMetricData

抛出
DeviceNotAvailableException

受保护的方法

fullLogPath

protected String fullLogPath ()

返回
String

getLogType

protected LogDataType getLogType ()

返回
LogDataType

startTracing

protected void startTracing (ITestDevice device)

参数
device ITestDevice

抛出
DeviceNotAvailableException

stopTracing

protected void stopTracing (ITestDevice device)

参数
device ITestDevice

抛出
DeviceNotAvailableException