BugreportzOnTestCaseFailureCollector

public class BugreportzOnTestCaseFailureCollector
extends BaseDeviceMetricCollector

java.lang.Object
   ↳ com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
     ↳ com.android.tradefed.device.metric.BugreportzOnTestCaseFailureCollector

在运行中的测试用例失败时收集 bugreportz。

摘要

公共构造函数

BugreportzOnTestCaseFailureCollector()

公共方法

void onTestFail(DeviceMetricData testData, TestDescription test)

测试用例失败时的回调。

void onTestRunEnd(DeviceMetricData runData, Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentRunMetrics)

测试运行结束时的回调。

void onTestRunStart(DeviceMetricData runData)

测试运行开始时的回调。

公共构造函数

BugreportzOnTestCaseFailureCollector

public BugreportzOnTestCaseFailureCollector ()

公共方法

onTestFail

public void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

测试用例失败时的回调。

参数
testData DeviceMetricData：用于保存测试用例数据的 DeviceMetricData。
test TestDescription：正在进行的测试用例的 TestDescription。

onTestRunEnd

public void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData, 
                Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentRunMetrics)

测试运行结束时的回调。此时应执行清理操作。

参数
runData DeviceMetricData：用于保存运行数据的 DeviceMetricData。将与 onTestRunStart(DeviceMetricData) 期间的对象相同。
currentRunMetrics Map：传递给 testRunEnded(long,Map) 的当前指标映射。

onTestRunStart

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

测试运行开始时的回调。

参数
runData DeviceMetricData：用于保存运行数据的 DeviceMetricData。