BugreportzOnTestCaseFailureCollector

public class BugreportzOnTestCaseFailureCollector
extends BaseDeviceMetricCollector

java.lang.Object
com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
com.android.tradefed.device.metric.BugreportzOnTestCaseFailureCollector


当运行中的测试用例失败时收集错误报告。

概括

公共构造函数

BugreportzOnTestCaseFailureCollector ()

公共方法

void onTestFail ( DeviceMetricData testData, TestDescription test)

测试用例失败时的回调。

void onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics) onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)

测试运行结束时的回调。

void onTestRunStart ( DeviceMetricData runData)

测试运行开始时的回调。

公共构造函数

BugreportzOnTestCaseFailureCollector

public BugreportzOnTestCaseFailureCollector ()

公共方法

测试失败时

public void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

测试用例失败时的回调。

参数
testData DeviceMetricData :保存测试用例数据的DeviceMetricData

test TestDescription :正在进行的测试用例的TestDescription

测试运行结束时

public void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData, 
                 currentRunMetrics)

测试运行结束时的回调。这应该是清理的时间。

参数
runData DeviceMetricData :保存运行数据的DeviceMetricData 。将与onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)期间的对象相同。

currentRunMetrics :传递给ERROR(/#testRunEnded(long,Map))的当前指标映射。

测试运行开始时

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

测试运行开始时的回调。

参数
runData DeviceMetricData :保存运行数据的DeviceMetricData