CountTestCasesCollector

public class CountTestCasesCollector
extends BaseDeviceMetricCollector

java.lang.Object
   ↳ com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
     ↳ com.android.tradefed.device.metric.CountTestCasesCollector


统计并报告给定 IRemoteTest 的测试用例数量。

摘要

公共构造函数

CountTestCasesCollector()
CountTestCasesCollector(IRemoteTest test)

公共方法

void onTestEnd(DeviceMetricData testData, Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentTestCaseMetrics)

测试用例结束时的回调。

void onTestFail(DeviceMetricData testData, TestDescription test)

测试用例失败时的回调。

void onTestRunEnd(DeviceMetricData runData, Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentRunMetrics)

测试运行结束时的回调。

void setTestType(IRemoteTest test)

公共构造函数

CountTestCasesCollector

public CountTestCasesCollector ()

CountTestCasesCollector

public CountTestCasesCollector (IRemoteTest test)

参数
test IRemoteTest

公共方法

onTestEnd

public void onTestEnd (DeviceMetricData testData, 
                Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentTestCaseMetrics)

测试用例结束时的回调。此时应执行清理操作。

参数
testData DeviceMetricData:用于保存测试用例数据的 DeviceMetricData。将与 onTestStart(DeviceMetricData) 期间的对象相同。

currentTestCaseMetrics Map:传递给 testEnded(TestDescription,Map) 的当前指标映射。

onTestFail

public void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

测试用例失败时的回调。

参数
testData DeviceMetricData:用于保存测试用例数据的 DeviceMetricData

test TestDescription:正在进行的测试用例的 TestDescription

抛出
DeviceNotAvailableException

onTestRunEnd

public void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData, 
                Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentRunMetrics)

测试运行结束时的回调。此时应执行清理操作。

参数
runData DeviceMetricData:用于保存运行数据的 DeviceMetricData。将与 onTestRunStart(DeviceMetricData) 期间的对象相同。

currentRunMetrics Map:传递给 testRunEnded(long,Map) 的当前指标映射。

setTestType

public void setTestType (IRemoteTest test)

参数
test IRemoteTest