度量收集器

public interface IMetricCollector
implements ILogSaverListener , IDisableable

com.android.tradefed.device.metric.IMetricCollector


在報告測試結果時,該介面將作為裝飾器添加,以收集匹配的指標。

此介面不能用作甚至它擴充了ITestInvocationListener 。配置檢查將拒絕它。它必須用作“metrics_collector”。

收集器不應保留內部狀態,因為它們可能會在多個地方重複使用。如果確實必須使用內部狀態,則應在init(com.android.tradefed.invoker.IInvocationContext, com.android.tradefed.result.ITestInvocationListener)上清理它。

概括

公共方法

default boolean captureModuleLevel ()

收集器是否適用於模組級捕獲並且應該是 init 的。

abstract getBuildInfos ()

傳回呼叫中可用的建置資訊列表。

abstract getDevices ()

傳回呼叫中可用的設備清單。

abstract ITestInvocationListener getInvocationListener ()

傳回我們在其中轉送結果的原始ITestInvocationListener

abstract ITestInvocationListener init ( IInvocationContext context, ITestInvocationListener listener)

使用當前上下文以及將結果轉送到的位置來初始化收集器。

abstract void onTestAssumptionFailure ( DeviceMetricData testData, TestDescription test)

當測試用例因假設失敗而失敗時的回調。

abstract void onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics, TestDescription test) onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics, TestDescription test)

測試用例結束時的回調。

abstract void onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics) onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics)

測試用例結束時的回調。

abstract void onTestFail ( DeviceMetricData testData, TestDescription test)

測試用例失敗時的回調。

default void onTestModuleEnded ()

允許捕獲模組結束事件。

default void onTestModuleStarted ()

允許捕獲模組啟動事件。

abstract void onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics) onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)

測試運行結束時的回調。

abstract void onTestRunStart ( DeviceMetricData runData)

測試運行開始時的回調。

default void onTestRunStart ( DeviceMetricData runData, int testCount)

測試運行開始時的回調。

abstract void onTestStart ( DeviceMetricData testData)

測試用例啟動時的回調。

公共方法

捕獲模組級別

public boolean captureModuleLevel ()

收集器是否適用於模組級捕獲並且應該是 init 的。

退貨
boolean

獲取建構資訊

public abstract  getBuildInfos ()

傳回呼叫中可用的建置資訊列表。

退貨

取得設備

public abstract  getDevices ()

傳回呼叫中可用的設備清單。

退貨

取得呼叫監聽器

public abstract ITestInvocationListener getInvocationListener ()

傳回我們在其中轉發結果的原始ITestInvocationListener

退貨
ITestInvocationListener

在裡面

public abstract ITestInvocationListener init (IInvocationContext context, 
                ITestInvocationListener listener)

使用當前上下文以及將結果轉送到的位置來初始化收集器。每個實例只會呼叫一次,並且收集器預計會更新其內部上下文和偵聽器。以前在測試運行期間永遠不會呼叫 Init。

除非您知道自己在做什麼,否則請勿覆蓋。

參數
context IInvocationContext :正在進行的呼叫的IInvocationContext

listener ITestInvocationListenerITestInvocationListener放置結果的位置。

退貨
ITestInvocationListener新的監聽器包裹了原來的監聽器。

投擲
DeviceNotAvailableException

測試假設失敗

public abstract void onTestAssumptionFailure (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

當測試用例因假設失敗而失敗時的回調。

參數
testData DeviceMetricData :儲存測試用例資料的DeviceMetricData

test TestDescription :正在進行的測試案例的TestDescription

投擲
DeviceNotAvailableException

測試結束時

public abstract void onTestEnd (DeviceMetricData testData, 
                 currentTestCaseMetrics, 
                TestDescription test)

測試用例結束時的回調。這應該是清理的時間。

參數
testData DeviceMetricData :儲存測試用例資料的DeviceMetricData 。將與onTestStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)期間的物件相同。

currentTestCaseMetrics :傳遞給ERROR(/#testEnded(com.android.tradefed.result.TestDescription,Map))的目前指標映射。

test TestDescription :正在進行的測試案例的TestDescription

投擲
DeviceNotAvailableException

測試結束時

public abstract void onTestEnd (DeviceMetricData testData, 
                 currentTestCaseMetrics)

測試用例結束時的回調。這應該是清理的時間。

參數
testData DeviceMetricData :儲存測試用例資料的DeviceMetricData 。將與onTestStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)期間的物件相同。

currentTestCaseMetrics :傳遞給ERROR(/#testEnded(com.android.tradefed.result.TestDescription,Map))的目前指標映射。

投擲
DeviceNotAvailableException

測試失敗時

public abstract void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

測試用例失敗時的回調。

參數
testData DeviceMetricData :儲存測試用例資料的DeviceMetricData

test TestDescription :正在進行的測試案例的TestDescription

投擲
DeviceNotAvailableException

測試模組結束時

public void onTestModuleEnded ()

允許捕獲模組結束事件。

投擲
com.android.tradefed.device.DeviceNotAvailableException
DeviceNotAvailableException

測試模組啟動

public void onTestModuleStarted ()

允許捕獲模組啟動事件。

投擲
com.android.tradefed.device.DeviceNotAvailableException
DeviceNotAvailableException

測試運行結束時

public abstract void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData, 
                 currentRunMetrics)

測試運行結束時的回調。這應該是清理的時間。

參數
runData DeviceMetricData :儲存運行資料的DeviceMetricData 。將與onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)期間的物件相同。

currentRunMetrics :傳遞給ERROR(/#testRunEnded(long,Map))目前指標映射。

投擲
DeviceNotAvailableException

測試運行開始時

public abstract void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

測試運行開始時的回調。

參數
runData DeviceMetricData :儲存運行資料的DeviceMetricData

投擲
DeviceNotAvailableException

測試運行開始時

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData, 
                int testCount)

測試運行開始時的回調。

參數
runData DeviceMetricData :儲存運行資料的DeviceMetricData

testCount int :本次測試運行中的測試案例數量。

投擲
DeviceNotAvailableException

測試開始時

public abstract void onTestStart (DeviceMetricData testData)

測試用例啟動時的回調。

參數
testData DeviceMetricData :儲存測試用例資料的DeviceMetricData

投擲
DeviceNotAvailableException