LogcatOnFailureCollector

public class LogcatOnFailureCollector
extends BaseDeviceMetricCollector

java.lang.Objek
↳ com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
↳ com.android.tradefed.device.metric.LogcatOnFailureCollector

Kolektor yang akan menangkap dan mencatat logcat ketika kasus uji gagal.

Ringkasan

Konstruktor publik

LogcatOnFailureCollector ()

Metode publik

void onTestFail ( DeviceMetricData testData, TestDescription test)

Panggilan balik ketika kasus uji gagal.

void onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics) onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)

Panggilan balik ketika uji coba berakhir.

void onTestRunFailed ( DeviceMetricData testData, FailureDescription failure)

Panggilan balik untuk acara testRunFailed

void onTestRunStart ( DeviceMetricData runData)

Panggilan balik saat uji coba dimulai.

void onTestStart ( DeviceMetricData testData)

Panggilan balik ketika kasus uji dimulai.

Metode yang dilindungi

void collectAndLog (String testName, int size)

Konstruktor publik

LogcatOnFailureCollector

public LogcatOnFailureCollector ()

Metode publik

padaTestFail

public void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

Panggilan balik ketika kasus uji gagal.

Parameter
testData DeviceMetricData : DeviceMetricData yang menyimpan data untuk kasus uji.

test TestDescription : TestDescription dari kasus uji yang sedang berlangsung.

Melempar
DeviceNotAvailableException

padaTestRunEnd

public void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData, 
                 currentRunMetrics)

Panggilan balik ketika uji coba berakhir. Ini seharusnya menjadi waktu untuk membersihkan.

Parameter
runData DeviceMetricData : DeviceMetricData yang menyimpan data untuk dijalankan. Akan menjadi objek yang sama seperti pada onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData) .

currentRunMetrics : peta metrik saat ini yang diteruskan ke ERROR(/#testRunEnded(long,Map)) .

padaTestRunFailed

public void onTestRunFailed (DeviceMetricData testData, 
                FailureDescription failure)

Panggilan balik untuk acara testRunFailed

Melempar
DeviceNotAvailableException

padaTestRunStart

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

Panggilan balik saat uji coba dimulai.

Parameter
runData DeviceMetricData : DeviceMetricData yang menyimpan data untuk dijalankan.

diTestStart

public void onTestStart (DeviceMetricData testData)

Panggilan balik ketika kasus uji dimulai.

Parameter
testData DeviceMetricData : DeviceMetricData yang menyimpan data untuk kasus uji.

Metode yang dilindungi

kumpulkanDanLog

protected void collectAndLog (String testName, 
                int size)

Parameter
testName String

size int

Melempar
DeviceNotAvailableException