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LogcatOnFailureCollector

public class LogcatOnFailureCollector
extends BaseDeviceMetricCollector

java.lang.Object 中
↳	com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
	↳	com.android.tradefed.device.metric.LogcatOnFailureCollector

已知的直接子类

ModuleLogcatCollector logcat 收集器的版本，但适用于模块。

当测试用例失败时，将捕获并记录 logcat 的收集器。

摘要

公共构造函数
`LogcatOnFailureCollector()`

公共方法
`void`	`onTestFail(DeviceMetricData testData, TestDescription test)` 测试用例失败时的回调。
`void`	`onTestRunEnd(DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)` 测试运行结束时的回调。
`void`	`onTestRunFailed(DeviceMetricData testData, FailureDescription failure)` testRunFailed 事件的回调
`void`	`onTestRunStart(DeviceMetricData runData)` 测试运行开始时的回调。
`void`	`onTestStart(DeviceMetricData testData)` 启动测试用例时的回调。

受保护的方法
`void`	`collectAndLog(String testName, int size)`

public LogcatOnFailureCollector ()

public void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

测试用例失败时的回调。

参数
`testData`	`DeviceMetricData`：用于保存测试用例数据的 `DeviceMetricData`。
`test`	`TestDescription`：正在进行的测试用例的 `TestDescription`。

抛出
`DeviceNotAvailableException`

public void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData, 
                 currentRunMetrics)

测试运行结束时的回调。这时应该进行清理。

参数
`runData`	`DeviceMetricData`：保存运行数据的 `DeviceMetricData`。将保持不变该对象与 `onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)` 期间相同。
`currentRunMetrics`	：传递给 `ERROR(/#testRunEnded(long,Map))` 的指标的当前映射。

public void onTestRunFailed (DeviceMetricData testData, 
                FailureDescription failure)

testRunFailed 事件的回调

抛出
`DeviceNotAvailableException`

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

测试运行开始时的回调。

参数
`runData`	`DeviceMetricData`：保存运行数据的 `DeviceMetricData`。

public void onTestStart (DeviceMetricData testData)

启动测试用例时的回调。

参数
`testData`	`DeviceMetricData`：用于保存测试用例数据的 `DeviceMetricData`。

protected void collectAndLog (String testName, 
                int size)

参数
`testName`	`String`
`size`	`int`

抛出
`DeviceNotAvailableException`