דף זה תורגם על ידי Cloud Translation API.

LogcatOnFailureCollector

public class LogcatOnFailureCollector
extends BaseDeviceMetricCollector

java.lang.Object
↳	com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
	↳	com.android.tradefed.device.metric.LogcatOnFailureCollector

תת מחלקות ישירות ידועות

ModuleLogcatCollector גרסה של אספן logcat אבל עבור מודול.

אספן שילכוד ויועד logcat כאשר מקרה בדיקה נכשל.

סיכום

בנאים ציבוריים
`LogcatOnFailureCollector ()`

שיטות ציבוריות
`void`	`onTestFail ( DeviceMetricData testData, TestDescription test)` התקשרות חוזרת כאשר מקרה מבחן נכשל.
`void`	`onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)` `onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)` התקשרות חוזרת כאשר הפעלת מבחן מסתיימת.
`void`	`onTestRunFailed ( DeviceMetricData testData, FailureDescription failure)` התקשרות חוזרת עבור אירועי testRunFailed
`void`	`onTestRunStart ( DeviceMetricData runData)` התקשרות חוזרת כאשר מתחילה ריצת מבחן.
`void`	`onTestStart ( DeviceMetricData testData)` התקשרות חוזרת כאשר מתחיל מקרה בדיקה.

שיטות מוגנות
`void`	`collectAndLog (String testName, int size)`

public LogcatOnFailureCollector ()

public void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

התקשרות חוזרת כאשר מקרה מבחן נכשל.

פרמטרים
`testData`	`DeviceMetricData` : ה- `DeviceMetricData` שמכיל את הנתונים עבור מקרה הבדיקה.
`test`	`TestDescription` : ה- `TestDescription` של מקרה הבדיקה בתהליך.

זורק
`DeviceNotAvailableException`

public void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData, 
                 currentRunMetrics)

התקשרות חוזרת כאשר הפעלת מבחן מסתיימת. זה אמור להיות הזמן לניקוי.

פרמטרים
`runData`	`DeviceMetricData` : ה- `DeviceMetricData` שמחזיק את הנתונים להרצה. יהיה אותו אובייקט כמו במהלך `onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)` .
`currentRunMetrics`	: המפה הנוכחית של המדדים שהועברה ל- `ERROR(/#testRunEnded(long,Map))` .

public void onTestRunFailed (DeviceMetricData testData, 
                FailureDescription failure)

התקשרות חוזרת עבור אירועי testRunFailed

זורק
`DeviceNotAvailableException`

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

התקשרות חוזרת כאשר מתחילה ריצת מבחן.

פרמטרים
`runData`	`DeviceMetricData` : ה- `DeviceMetricData` שמחזיק את הנתונים להרצה.

public void onTestStart (DeviceMetricData testData)

התקשרות חוזרת כאשר מתחיל מקרה בדיקה.

פרמטרים
`testData`	`DeviceMetricData` : ה- `DeviceMetricData` שמכיל את הנתונים עבור מקרה הבדיקה.

protected void collectAndLog (String testName, 
                int size)

פרמטרים
`testName`	`String`
`size`	`int`

זורק
`DeviceNotAvailableException`