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ModuleLogcatCollector

public class ModuleLogcatCollector
extends LogcatOnFailureCollector

java.lang.Object 中
↳	com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
	↳	com.android.tradefed.device.metric.LogcatOnFailureCollector
		↳	com.android.tradefed.device.metric.ModuleLogcatCollector

logcat 收集器的版本，但适用于模块。

摘要

公共构造函数
`ModuleLogcatCollector()`

公共方法
`boolean`	`captureModuleLevel()`
`void`	`onTestFail(DeviceMetricData testData, TestDescription test)` 测试用例失败时的回调。
`void`	`onTestModuleEnded()` 允许捕获“模块已结束”事件。
`void`	`onTestModuleStarted()` 允许捕获“模块已启动”事件。
`void`	`onTestRunEnd(DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)` 测试运行结束时的回调。
`void`	`onTestRunFailed(DeviceMetricData testData, FailureDescription failure)` testRunFailed 事件的回调
`void`	`onTestRunStart(DeviceMetricData runData)` 测试运行开始时的回调。

public ModuleLogcatCollector ()

public boolean captureModuleLevel ()

返回
`boolean`

public void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

测试用例失败时的回调。

参数
`testData`	`DeviceMetricData`：用于保存测试用例数据的 `DeviceMetricData`。
`test`	`TestDescription`：正在进行的测试用例的 `TestDescription`。

抛出
`DeviceNotAvailableException`

public void onTestModuleEnded ()

允许捕获“模块已结束”事件。

抛出
`DeviceNotAvailableException`

public void onTestModuleStarted ()

允许捕获“模块已启动”事件。

抛出
`DeviceNotAvailableException`

public void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData, 
                 currentRunMetrics)

测试运行结束时的回调。这时应该进行清理。

参数
`runData`	`DeviceMetricData`：保存运行数据的 `DeviceMetricData`。将保持不变该对象与 `onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)` 期间相同。
`currentRunMetrics`	：传递给 `ERROR(/#testRunEnded(long,Map))` 的指标的当前映射。

public void onTestRunFailed (DeviceMetricData testData, 
                FailureDescription failure)

testRunFailed 事件的回调

抛出
`DeviceNotAvailableException`

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

测试运行开始时的回调。

参数
`runData`	`DeviceMetricData`：保存运行数据的 `DeviceMetricData`。