自 2025 年 3 月 27 日起，我們建議您使用 android-latest-release 而非 aosp-main 建構及貢獻 AOSP。詳情請參閱「Android 開放原始碼計畫變更」。

本頁面由 Cloud Translation API 翻譯而成。

ModuleLogcatCollector

public class ModuleLogcatCollector
extends LogcatOnFailureCollector

java.lang.Object
↳	com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
	↳	com.android.tradefed.device.metric.LogcatOnFailureCollector
		↳	com.android.tradefed.device.metric.ModuleLogcatCollector

Logcat 收集器的版本，但適用於模組。

摘要

公用建構函式
`ModuleLogcatCollector()`

公用方法
`boolean`	`captureModuleLevel()`
`void`	`onTestFail(DeviceMetricData testData, TestDescription test)` 測試案例失敗時的回呼。
`void`	`onTestModuleEnded()` 可擷取模組結束事件。
`void`	`onTestModuleStarted()` 可擷取模組啟動事件。
`void`	`onTestRunEnd(DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)` 測試結束時的回呼。
`void`	`onTestRunFailed(DeviceMetricData testData, FailureDescription failure)` 用於 testRunFailed 事件的回呼
`void`	`onTestRunStart(DeviceMetricData runData)` 開始執行測試時的回呼。

public ModuleLogcatCollector ()

public boolean captureModuleLevel ()

傳回
`boolean`

public void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

測試案例失敗時的回呼。

參數
`testData`	`DeviceMetricData`：保留測試案例資料的 `DeviceMetricData`。
`test`	`TestDescription`：進行中的測試案例 `TestDescription`。

擲回
`DeviceNotAvailableException`

public void onTestModuleEnded ()

可擷取模組結束事件。

擲回
`DeviceNotAvailableException`

public void onTestModuleStarted ()

可擷取模組啟動事件。

擲回
`DeviceNotAvailableException`

public void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData, 
                 currentRunMetrics)

測試結束時的回呼。這時應該要清理了。

參數
`runData`	`DeviceMetricData`：儲存執行作業資料的 `DeviceMetricData`。會與 `onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)` 期間相同的物件。
`currentRunMetrics`	：傳遞至 `ERROR(/#testRunEnded(long,Map))` 的目前指標對應項目。

public void onTestRunFailed (DeviceMetricData testData, 
                FailureDescription failure)

testRunFailed 事件的回呼

擲回
`DeviceNotAvailableException`

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

開始測試時的回呼。

參數
`runData`	`DeviceMetricData`：儲存執行作業資料的 `DeviceMetricData`。