Ab dem 27. März 2025 empfehlen wir, android-latest-release anstelle von aosp-main zu verwenden, um AOSP zu erstellen und Beiträge dazu zu leisten. Weitere Informationen finden Sie unter Änderungen am AOSP.

Diese Seite wurde von der Cloud Translation API übersetzt.

ScreenshotOnFailureCollector

public class ScreenshotOnFailureCollector
extends BaseDeviceMetricCollector

java.lang.Object
↳	com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
	↳	com.android.tradefed.device.metric.ScreenshotOnFailureCollector

Erfasst und protokolliert einen Screenshot, wenn ein Testfall fehlschlägt.

Zusammenfassung

Öffentliche Konstruktoren
`ScreenshotOnFailureCollector()`

Öffentliche Methoden
`void`	`onTestFail(DeviceMetricData testData, TestDescription test)` Rückruf, wenn ein Testlauf fehlschlägt.
`void`	`onTestRunStart(DeviceMetricData runData)` Callback, wenn ein Test gestartet wird.

Öffentliche Konstruktoren

ScreenshotOnFailureCollector

public ScreenshotOnFailureCollector ()

Öffentliche Methoden

onTestFail

public void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

Rückruf, wenn ein Testlauf fehlschlägt.

Parameter
`testData`	`DeviceMetricData`: die `DeviceMetricData`, die die Daten für den Testfall enthält.
`test`	`TestDescription`: die `TestDescription` des laufenden Testfalls.

Ausgabe
`DeviceNotAvailableException`

onTestRunStart

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

Callback, wenn ein Test gestartet wird.

Parameter
`runData`	`DeviceMetricData`: die `DeviceMetricData`, die die Daten für den Lauf enthält.