장치 테스트 결과

public class DeviceTestResult
extends TestResult

java.lang.Object
junit.framework.TestResult
com.android.tradefed.testtype.DeviceTestResult


DeviceNotAvailableException 이 발생할 때 중단되는 TestResult 의 특수화

요약

중첩 클래스

class DeviceTestResult.RuntimeDeviceNotAvailableException

공개 생성자

DeviceTestResult ()

공개 메소드

void endTest (Test test)

void runProtected (Test test, Protectable p)

TestCase를 실행합니다.

void setTestInfo ( TestInformation testInfo)
void startTest (Test test)

보호된 방법

void run (TestCase test)

공개 생성자

장치 테스트 결과

public DeviceTestResult ()

공개 메소드

테스트 종료

public void endTest (Test test)

매개변수
test Test

보호됨

public void runProtected (Test test, 
                Protectable p)

TestCase를 실행합니다.

매개변수
test Test

p Protectable

던지기
DeviceTestResult.RuntimeDeviceNotAvailableException DeviceNotAvailableException이 발생하는 경우

테스트정보 설정

public void setTestInfo (TestInformation testInfo)

매개변수
testInfo TestInformation

시작테스트

public void startTest (Test test)

매개변수
test Test

보호된 방법

달리다

protected void run (TestCase test)

매개변수
test TestCase