設備測試結果

public class DeviceTestResult
extends TestResult

java.lang.Object
junit.framework.TestResult
com.android.tradefed.testtype.DeviceTestResult


TestResult的特化,當發生DeviceNotAvailableException時將中止

概括

嵌套類

class DeviceTestResult.RuntimeDeviceNotAvailableException

公共構造函數

DeviceTestResult ()

公共方法

void endTest (Test test)

void runProtected (Test test, Protectable p)

運行測試用例。

void setTestInfo ( TestInformation testInfo)
void startTest (Test test)

受保護的方法

void run (TestCase test)

公共構造函數

設備測試結果

public DeviceTestResult ()

公共方法

結束測試

public void endTest (Test test)

參數
test Test

運行保護

public void runProtected (Test test, 
                Protectable p)

運行測試用例。

參數
test Test

p Protectable

投擲
DeviceTestResult.RuntimeDeviceNotAvailableException如果發生 DeviceNotAvailableException

設定測試訊息

public void setTestInfo (TestInformation testInfo)

參數
testInfo TestInformation

開始測試

public void startTest (Test test)

參數
test Test

受保護的方法

跑步

protected void run (TestCase test)

參數
test TestCase