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設備測試結果

public class DeviceTestResult
extends TestResult

java.lang.Object
↳	junit.framework.TestResult
	↳	com.android.tradefed.testtype.DeviceTestResult

概括

嵌套類
`class`	`DeviceTestResult.RuntimeDeviceNotAvailableException`

公共構造函數
`DeviceTestResult ()`

公共方法
`void`	`endTest (Test test)`
`void`	`runProtected (Test test, Protectable p)` 運行測試用例。
`void`	`setTestInfo ( TestInformation testInfo)`
`void`	`startTest (Test test)`

受保護的方法
`void`	`run (TestCase test)`

public DeviceTestResult ()

public void endTest (Test test)

參數
`test`	`Test`

public void runProtected (Test test, 
                Protectable p)

運行測試用例。

參數
`test`	`Test`
`p`	`Protectable`

投擲
`DeviceTestResult.RuntimeDeviceNotAvailableException`	如果發生 DeviceNotAvailableException

public void setTestInfo (TestInformation testInfo)

參數
`testInfo`	`TestInformation`

public void startTest (Test test)

參數
`test`	`Test`

protected void run (TestCase test)

參數
`test`	`TestCase`