このページは Cloud Translation API によって翻訳されました。

DeviceTestResult

public class DeviceTestResult
extends TestResult

java.lang.Object
↳	junit.framework.TestResult
	↳	com.android.tradefed.testtype.DeviceTestResult

TestResult に特化しており、 DeviceNotAvailableException 回発生

概要

ネストされたクラス
`class`	`DeviceTestResult.RuntimeDeviceNotAvailableException`

パブリックコンストラクタ
`DeviceTestResult()`

パブリックメソッド
`void`	`endTest(Test test)`
`void`	`runProtected(Test test, Protectable p)` TestCase を実行します。
`void`	`setTestInfo(TestInformation testInfo)`
`void`	`startTest(Test test)`

保護されたメソッド
`void`	`run(TestCase test)`

public DeviceTestResult ()

public void endTest (Test test)

パラメータ
`test`	`Test`

public void runProtected (Test test, 
                Protectable p)

TestCase を実行します。

パラメータ
`test`	`Test`
`p`	`Protectable`

例外
`DeviceTestResult.RuntimeDeviceNotAvailableException`	DeviceNotAvailableException が発生した場合

public void setTestInfo (TestInformation testInfo)

パラメータ
`testInfo`	`TestInformation`

public void startTest (Test test)

パラメータ
`test`	`Test`

protected void run (TestCase test)

パラメータ
`test`	`TestCase`