自動登錄失敗收集

在調試測試時,總是需要一組日誌來了解故障和被測設備的基本情況。來源包括:Logcat、Tradefed 主機日誌、截圖等。

為了讓任何測試編寫者都能輕鬆地獲取這些日誌,Tradefed 有一個內置機制來幫助收集它們。

配置

要在失敗時自動收集一些日誌,您可以在 Tradefed 命令行中添加以下選項:

--auto-collect LOGCAT_ON_FAILURE
or
--auto-collect SCREENSHOT_ON_FAILURE

要查看可能值的完整列表,請查看AutoLogCollector

為方便起見,logcat 和 screenshot 都有一個直接標誌:

--logcat-on-failure
and
--screenshot-on-failure

套件模塊注意事項 (AndroidTest.xml)

模塊不能在AndroidTest.xml中直接指定此選項,但它們可以使用模塊控制器