自動登錄失敗收集

在調試測試時，總是需要一組日誌來了解故障和被測設備的基本情況。來源包括：Logcat、Tradefed 主機日誌、截圖等。

為了讓任何測試編寫者都能輕鬆地獲取這些日誌，Tradefed 有一個內置機制來幫助收集它們。

配置

要在失敗時自動收集一些日誌，您可以在 Tradefed 命令行中添加以下選項：

--auto-collect LOGCAT_ON_FAILURE
or
--auto-collect SCREENSHOT_ON_FAILURE

要查看可能值的完整列表，請查看AutoLogCollector

為方便起見，logcat 和 screenshot 都有一個直接標誌：

--logcat-on-failure
and
--screenshot-on-failure

套件模塊注意事項 (AndroidTest.xml)

模塊不能在AndroidTest.xml中直接指定此選項，但它們可以使用模塊控制器。