Atraceコレクター

public class AtraceCollector
extends BaseDeviceMetricCollector

java.lang.Object
↳ com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
↳ com.android.tradefed.device.metric.AtraceCollector

テスト中に atrace を実行し、結果を収集して呼び出しに記録するIMetricCollector 。

まとめ

パブリック コンストラクター

AtraceCollector ()

公開メソッド

void onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics, TestDescription test) onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics, TestDescription test)

テストケース終了時のコールバック。

void onTestStart ( DeviceMetricData testData)

テストケース開始時のコールバック。

保護されたメソッド

String fullLogPath ()
LogDataType getLogType ()
void startTracing ( ITestDevice device)
void stopTracing ( ITestDevice device)

パブリック コンストラクター

Atraceコレクター

public AtraceCollector ()

公開メソッド

onTestEnd

public void onTestEnd (DeviceMetricData testData, 
                 currentTestCaseMetrics, 
                TestDescription test)

テストケース終了時のコールバック。これは、クリーンアップの時間である必要があります。

パラメーター
testData DeviceMetricData : テスト ケースのデータを保持するDeviceMetricData 。 onTestStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)中と同じオブジェクトになります。

currentTestCaseMetrics : ERROR(/#testEnded(com.android.tradefed.result.TestDescription,Map))に渡されるメトリックの現在のマップ。

test TestDescription : 進行中のテスト ケースのTestDescription 。

スロー
DeviceNotAvailableException

onTestStart

public void onTestStart (DeviceMetricData testData)

テストケース開始時のコールバック。

パラメーター
testData DeviceMetricData : テスト ケースのデータを保持するDeviceMetricData 。

スロー
DeviceNotAvailableException

保護されたメソッド

fullLogPath

protected String fullLogPath ()

戻り値
String

getLogType

protected LogDataType getLogType ()

戻り値
LogDataType

startTracing

protected void startTracing (ITestDevice device)

パラメーター
device ITestDevice

スロー
DeviceNotAvailableException

stopTracing

protected void stopTracing (ITestDevice device)

パラメーター
device ITestDevice

スロー
DeviceNotAvailableException