HostStatsdMetricCollector

public class HostStatsdMetricCollector
extends BaseDeviceMetricCollector

java.lang.Object
   ↳ com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
     ↳ com.android.tradefed.device.metric.HostStatsdMetricCollector

IMetricCollector, który zbiera dane statsd po stronie hosta za pomocą poleceń narzędzia statsd. Zawiera ona podstawowe dane push i funkcje raportu zrzutu. Może ona być rozszerzana o podklasy, aby przetwarzać raporty danych statsd zgodnie z potrzebami.

Podsumowanie

Konstruktory publiczne

HostStatsdMetricCollector()

Metody publiczne

void onTestEnd(DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics)

wywołanie zwrotne po zakończeniu testu.

void onTestFail(DeviceMetricData testData, TestDescription test)

wywołanie zwrotne, gdy przypadek testowy zakończy się niepowodzeniem.

void onTestRunEnd(DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)

wywołanie zwrotne po zakończeniu testu.

void onTestRunStart(DeviceMetricData runData)

wywołanie zwrotne po rozpoczęciu testu.

void onTestStart(DeviceMetricData testData)

wywołanie zwrotne po rozpoczęciu testu.

Chronione metody

void processStatsReport(ITestDevice device, InputStreamSource dataStream, DeviceMetricData runData)

Podklasy mogą w razie potrzeby stosować metodę do przetwarzania raportu danych Statsd.

Konstruktory publiczne

HostStatsdMetricCollector

public HostStatsdMetricCollector ()

Metody publiczne

onTestEnd

public void onTestEnd (DeviceMetricData testData, 
                 currentTestCaseMetrics)

wywołanie zwrotne po zakończeniu testu. Czas na porządki.

Parametry
testData DeviceMetricData: DeviceMetricData zawierający dane testowe. Będzie to ten sam obiekt co podczas onTestStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData).
currentTestCaseMetrics : bieżąca mapa danych przekazanych do ERROR(/#testEnded(com.android.tradefed.result.TestDescription,Map)).
Rzuty
DeviceNotAvailableException

onTestFail

public void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

wywołanie zwrotne, gdy przypadek testowy zakończy się niepowodzeniem.

Parametry
testData DeviceMetricData: DeviceMetricData zawierający dane testowe.
test TestDescription: TestDescription elementu testowania w trakcie wykonywania.

onTestRunEnd

public void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData, 
                 currentRunMetrics)

wywołanie zwrotne po zakończeniu testu. Czas na porządki.

Parametry
runData DeviceMetricData: DeviceMetricData zawierający dane dotyczące wykonania. Będzie to ten sam obiekt co w onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData).
currentRunMetrics : bieżąca mapa danych przekazanych do ERROR(/#testRunEnded(long,Map)).
Rzuty
DeviceNotAvailableException

onTestRunStart

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

wywołanie zwrotne po rozpoczęciu testu.

Parametry
runData DeviceMetricData: DeviceMetricData zawierający dane dotyczące wykonania.
Rzuty
DeviceNotAvailableException

onTestStart

public void onTestStart (DeviceMetricData testData)

wywołanie zwrotne po rozpoczęciu testu.

Parametry
testData DeviceMetricData: DeviceMetricData zawierający dane testowe.
Rzuty
DeviceNotAvailableException

Chronione metody

processStatsReport

protected void processStatsReport (ITestDevice device, 
                InputStreamSource dataStream, 
                DeviceMetricData runData)

Podklasy mogą w razie potrzeby stosować metodę do przetwarzania raportu danych Statsd. Jest wywoływany w przypadku raportu danych z konkretnego urządzenia

Parametry
device ITestDevice: urządzenie testowe, z którego pochodzi raport statsd
dataStream InputStreamSource: raport statystyk jako strumień danych wejściowych
runData DeviceMetricData: miejsce docelowe, w którym będą przechowywane przetworzone dane