Iメトリックコレクター
public interface IMetricCollector
implements ILogSaverListener , IDisableable
com.android.tradefed.device.metric.IMetricCollector |
このインターフェイスは、一致するメトリクスを収集するために、テスト結果を報告するときにデコレータとして追加されます。
このインターフェースは、 コレクターは複数の場所で再利用される可能性があるため、内部状態を保持することは期待されていません。内部状態を本当に使用する必要がある場合は、 コレクターがモジュール レベルのキャプチャに適用可能かどうか、また初期化する必要があるかどうか。 呼び出しで利用可能なビルド情報のリストを返します。 呼び出しで使用可能なデバイスのリストを返します。 結果を転送する元の 現在のコンテキストと結果の転送先を使用したコレクターの初期化。 仮定の失敗によりテスト ケースが失敗した場合のコールバック。 テストケース終了時のコールバック。 テストケース終了時のコールバック。 テストケースが失敗した場合のコールバック。 モジュール終了イベントをキャプチャできるようにします。 モジュール開始イベントをキャプチャできるようにします。 テスト実行終了時のコールバック。 テスト実行開始時のコールバック。 テスト実行開始時のコールバック。 テストケース開始時のコールバック。 コレクターがモジュール レベルのキャプチャに適用可能かどうか、また初期化する必要があるかどうか。 呼び出しで利用可能なビルド情報のリストを返します。 呼び出しで使用可能なデバイスのリストを返します。 結果を転送する元の 現在のコンテキストと結果の転送先を使用したコレクターの初期化。インスタンスごとに 1 回だけ呼び出され、コレクターは内部コンテキストとリスナーを更新することが期待されます。常に以前のテスト実行中に Init が呼び出されることはありません。 自分が何をしているのか理解していない限り、オーバーライドしないでください。 仮定の失敗によりテスト ケースが失敗した場合のコールバック。 テストケース終了時のコールバック。これは掃除の時間であるはずです。 テストケース終了時のコールバック。これは掃除の時間であるはずです。 テストケースが失敗した場合のコールバック。 モジュール終了イベントをキャプチャできるようにします。 モジュール開始イベントをキャプチャできるようにします。 テスト実行終了時のコールバック。これは掃除の時間であるはずです。 テスト実行開始時のコールバック。 テスト実行開始時のコールバック。 テストケース開始時のコールバック。ITestInvocationListener
を拡張する場合でも。構成チェックでは拒否されます。 「metrics_collector」として使用する必要があります。init(com.android.tradefed.invoker.IInvocationContext, com.android.tradefed.result.ITestInvocationListener)
でクリーンアップする必要があります。まとめ
パブリックメソッド
default boolean
captureModuleLevel ()
abstract
getBuildInfos ()
abstract
getDevices ()
abstract ITestInvocationListener
getInvocationListener ()
ITestInvocationListener
を返します。 abstract ITestInvocationListener
init ( IInvocationContext context, ITestInvocationListener listener)
abstract void
onTestAssumptionFailure ( DeviceMetricData testData, TestDescription test)
abstract void
onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics, TestDescription test)
onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics, TestDescription test)
abstract void
onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics)
onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics)
abstract void
onTestFail ( DeviceMetricData testData, TestDescription test)
default void
onTestModuleEnded ()
default void
onTestModuleStarted ()
abstract void
onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)
onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)
abstract void
onTestRunStart ( DeviceMetricData runData)
default void
onTestRunStart ( DeviceMetricData runData, int testCount)
abstract void
onTestStart ( DeviceMetricData testData)
パブリックメソッド
キャプチャモジュールレベル
public boolean captureModuleLevel ()
戻り値 boolean
getBuildInfos
public abstract
戻り値 デバイスの取得
public abstract
戻り値 getInvocationListener
public abstract ITestInvocationListener getInvocationListener ()
ITestInvocationListener
を返します。戻り値 ITestInvocationListener
初期化
public abstract ITestInvocationListener init (IInvocationContext context,
ITestInvocationListener listener)
パラメーター context
IInvocationContext
: 進行中の呼び出しのIInvocationContext
。 listener
ITestInvocationListener
: 結果を格納するITestInvocationListener
。戻り値 ITestInvocationListener
元のリスナーをラップする新しいリスナー。 投げる DeviceNotAvailableException
onTestAssumptionFailure
public abstract void onTestAssumptionFailure (DeviceMetricData testData,
TestDescription test)
パラメーター testData
DeviceMetricData
: テスト ケースのデータを保持するDeviceMetricData
。 test
TestDescription
: 進行中のテスト ケースのTestDescription
。投げる DeviceNotAvailableException
テスト終了時
public abstract void onTestEnd (DeviceMetricData testData,
パラメーター testData
DeviceMetricData
: テスト ケースのデータを保持するDeviceMetricData
。 onTestStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)
のときと同じオブジェクトになります。 currentTestCaseMetrics
ERROR(/#testEnded(com.android.tradefed.result.TestDescription,Map))
に渡されるメトリクスの現在のマップ。 test
TestDescription
: 進行中のテスト ケースのTestDescription
。投げる DeviceNotAvailableException
テスト終了時
public abstract void onTestEnd (DeviceMetricData testData,
パラメーター testData
DeviceMetricData
: テスト ケースのデータを保持するDeviceMetricData
。 onTestStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)
のときと同じオブジェクトになります。 currentTestCaseMetrics
ERROR(/#testEnded(com.android.tradefed.result.TestDescription,Map))
に渡されるメトリクスの現在のマップ。投げる DeviceNotAvailableException
onTestFail
public abstract void onTestFail (DeviceMetricData testData,
TestDescription test)
パラメーター testData
DeviceMetricData
: テスト ケースのデータを保持するDeviceMetricData
。 test
TestDescription
: 進行中のテスト ケースのTestDescription
。投げる DeviceNotAvailableException
onTestModule終了
public void onTestModuleEnded ()
投げる com.android.tradefed.device.DeviceNotAvailableException DeviceNotAvailableException
onTestModuleStarted
public void onTestModuleStarted ()
投げる com.android.tradefed.device.DeviceNotAvailableException DeviceNotAvailableException
テスト実行終了時
public abstract void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData,
パラメーター runData
DeviceMetricData
: 実行のデータを保持するDeviceMetricData
。 onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)
のときと同じオブジェクトになります。 currentRunMetrics
ERROR(/#testRunEnded(long,Map))
に渡されるメトリクスの現在のマップ。投げる DeviceNotAvailableException
onTestRunStart
public abstract void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)
パラメーター runData
DeviceMetricData
: 実行のデータを保持するDeviceMetricData
。投げる DeviceNotAvailableException
onTestRunStart
public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData,
int testCount)
パラメーター runData
DeviceMetricData
: 実行のデータを保持するDeviceMetricData
。 testCount
int
: このテスト実行のテスト ケースの数。投げる DeviceNotAvailableException
テスト開始時
public abstract void onTestStart (DeviceMetricData testData)
パラメーター testData
DeviceMetricData
: テスト ケースのデータを保持するDeviceMetricData
。投げる DeviceNotAvailableException