LogcatOnFailureCollector

public class LogcatOnFailureCollector
extends BaseDeviceMetricCollector

java.lang.Object
   ↳ com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
     ↳ com.android.tradefed.device.metric.LogcatOnFailureCollector

在测试用例失败时捕获并记录 logcat 的收集器。

摘要

公共构造函数

LogcatOnFailureCollector()

公共方法

void onTestFail(DeviceMetricData testData, TestDescription test)

测试用例失败时的回调。

void onTestRunEnd(DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)

测试运行结束时的回调。

void onTestRunFailed(DeviceMetricData testData, FailureDescription failure)

testRunFailed 事件的回调

void onTestRunStart(DeviceMetricData runData)

测试运行开始时的回调。

void onTestStart(DeviceMetricData testData)

测试用例启动时的回调。

受保护的方法

void collectAndLog(String testName, int size)

公共构造函数

LogcatOnFailureCollector

public LogcatOnFailureCollector ()

公共方法

onTestFail

public void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

测试用例失败时的回调。

参数
testData DeviceMetricData：用于存储测试用例数据的 DeviceMetricData。
test TestDescription：正在进行的测试用例的 TestDescription。
抛出
DeviceNotAvailableException

onTestRunEnd

public void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData, 
                 currentRunMetrics)

测试运行结束时的回调。现在应该是清理时间了。

参数
runData DeviceMetricData：用于存储运行数据的 DeviceMetricData。将与 onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData) 期间相同的对象。
currentRunMetrics ：传递给 ERROR(/#testRunEnded(long,Map)) 的当前指标映射。

onTestRunFailed

public void onTestRunFailed (DeviceMetricData testData, 
                FailureDescription failure)

testRunFailed 事件的回调

抛出
DeviceNotAvailableException

onTestRunStart

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

测试运行开始时的回调。

参数
runData DeviceMetricData：用于存储运行数据的 DeviceMetricData。

onTestStart

public void onTestStart (DeviceMetricData testData)

测试用例启动时的回调。

参数
testData DeviceMetricData：用于存储测试用例数据的 DeviceMetricData。

受保护的方法

collectAndLog

protected void collectAndLog (String testName, 
                int size)

参数
testName String

size int

抛出
DeviceNotAvailableException