LogcatOnFailureCollector

public class LogcatOnFailureCollector
extends BaseDeviceMetricCollector

java.lang.Object
   ↳ com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
     ↳ com.android.tradefed.device.metric.LogcatOnFailureCollector

当测试用例或测试运行失败时，将捕获并记录 logcat 的收集器。如果启用了默认收集，系统将收集指定级别的宿主日志。

摘要

公共构造函数

LogcatOnFailureCollector()

公共方法

boolean captureModuleLevel()
void onTestEnd(DeviceMetricData testData, Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentTestCaseMetrics)

测试用例结束时的回调。

void onTestFail(DeviceMetricData testData, TestDescription test)

测试用例失败时的回调。

void onTestModuleEnded()

允许捕获模块结束事件。

void onTestModuleStarted()

允许捕获模块启动事件。

void onTestRunEnd(DeviceMetricData runData, Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentRunMetrics)

测试运行结束时的回调。

void onTestRunFailed(DeviceMetricData testData, FailureDescription failure)

针对 testRunFailed 事件的回调

void onTestRunStart(DeviceMetricData runData)

测试运行开始时的回调。

void onTestRunStartBlocking()
void onTestStart(DeviceMetricData testData)

测试用例开始时的回调。

受保护的方法

void collectAndLog(String testName, int size, IMetricCollector.MetricCollectionLevel level)

公共构造函数

LogcatOnFailureCollector

public LogcatOnFailureCollector ()

公共方法

captureModuleLevel

public boolean captureModuleLevel ()

返回
boolean

onTestEnd

public void onTestEnd (DeviceMetricData testData, 
                Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentTestCaseMetrics)

测试用例结束时的回调。此时应执行清理操作。

参数
testData DeviceMetricData：用于保存测试用例数据的 DeviceMetricData。将与 onTestStart(DeviceMetricData) 期间的对象相同。
currentTestCaseMetrics Map：传递给 testEnded(TestDescription,Map) 的当前指标映射。
抛出
DeviceNotAvailableException

onTestFail

public void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

测试用例失败时的回调。

参数
testData DeviceMetricData：用于保存测试用例数据的 DeviceMetricData。
test TestDescription：正在进行的测试用例的 TestDescription。
抛出
DeviceNotAvailableException

onTestModuleEnded

public void onTestModuleEnded ()

允许捕获模块结束事件。

抛出
DeviceNotAvailableException

onTestModuleStarted

public void onTestModuleStarted ()

允许捕获模块启动事件。

抛出
DeviceNotAvailableException

onTestRunEnd

public void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData, 
                Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentRunMetrics)

测试运行结束时的回调。此时应执行清理操作。

参数
runData DeviceMetricData：用于保存运行数据的 DeviceMetricData。将与 onTestRunStart(DeviceMetricData) 期间的对象相同。
currentRunMetrics Map：传递给 testRunEnded(long,Map) 的当前指标映射。
抛出
DeviceNotAvailableException

onTestRunFailed

public void onTestRunFailed (DeviceMetricData testData, 
                FailureDescription failure)

针对 testRunFailed 事件的回调

抛出
DeviceNotAvailableException

onTestRunStart

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

测试运行开始时的回调。

参数
runData DeviceMetricData：用于保存运行数据的 DeviceMetricData。

onTestRunStartBlocking

public void onTestRunStartBlocking ()

抛出
DeviceNotAvailableException

onTestStart

public void onTestStart (DeviceMetricData testData)

测试用例开始时的回调。

参数
testData DeviceMetricData：用于保存测试用例数据的 DeviceMetricData。

受保护的方法

collectAndLog

protected void collectAndLog (String testName, 
                int size, 
                IMetricCollector.MetricCollectionLevel level)

参数
testName String

size int

level IMetricCollector.MetricCollectionLevel

抛出
DeviceNotAvailableException