ScreenshotOnFailure收集器

public class ScreenshotOnFailureCollector
extends BaseDeviceMetricCollector

java.lang.Object
↳ com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
↳ com.android.tradefed.device.metric.ScreenshotOnFailureCollector

當測試用例失敗時將捕獲並記錄屏幕截圖的收集器。

概括

公共構造函數

ScreenshotOnFailureCollector ()

公共方法

void onTestFail ( DeviceMetricData testData, TestDescription test)

測試用例失敗時回調。

void onTestRunStart ( DeviceMetricData runData)

測試運行開始時的回調。

公共構造函數

ScreenshotOnFailure收集器

public ScreenshotOnFailureCollector ()

公共方法

測試失敗

public void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

測試用例失敗時回調。

參數
testData DeviceMetricData ：保存測試用例數據的DeviceMetricData 。

test TestDescription ：正在進行的測試用例的TestDescription 。

投擲
DeviceNotAvailableException

onTestRunStart

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

測試運行開始時的回調。

參數
runData DeviceMetricData ：保存運行數據的DeviceMetricData 。