public void tearDown (TestInformation testInfo,
Throwable e)
פרמטרים
testInfo
TestInformation
e
Throwable
זורק
DeviceNotAvailableException
שיטות מוגנות
לְנַקוֹת
protected void clean (ITestDevice device)
בצע פעולת ניקוי ואחריו פעולת ניקוי לאחר
פרמטרים
device
ITestDevice
זורק
DeviceNotAvailableException
Content and code samples on this page are subject to the licenses described in the Content License. Java and OpenJDK are trademarks or registered trademarks of Oracle and/or its affiliates.
Last updated 2020-09-08 UTC.
[{
"type": "thumb-down",
"id": "missingTheInformationINeed",
"label":"חסרים לי מידע או פרטים"
},{
"type": "thumb-down",
"id": "tooComplicatedTooManySteps",
"label":"התוכן מורכב מדי או עם יותר מדי שלבים"
},{
"type": "thumb-down",
"id": "outOfDate",
"label":"התוכן לא עדכני"
},{
"type": "thumb-down",
"id": "translationIssue",
"label":"בעיה בתרגום"
},{
"type": "thumb-down",
"id": "samplesCodeIssue",
"label":"בעיה בדוגמאות/בקוד"
},{
"type": "thumb-down",
"id": "otherDown",
"label":"סיבה אחרת"
}]
[{
"type": "thumb-up",
"id": "easyToUnderstand",
"label":"התוכן קל להבנה"
},{
"type": "thumb-up",
"id": "solvedMyProblem",
"label":"התוכן עזר לי לפתור בעיה"
},{
"type": "thumb-up",
"id": "otherUp",
"label":"סיבה אחרת"
}]