用於 HAL 測試的參數化 gtest

對於一個 HAL 接口，可能有多個實現。要測試 HAL 實現的每個實例，標準方法是編寫一個值參數化的 gtest 。

基本測試設置

gtest 必須繼承基類testing::TestWithParam ，其中參數是每個實例的名稱。在SetUp方法中，可以根據實例名稱實例化服務，如下面的代碼片段所示。

// The main test class for the USB hidl HAL
class UsbHidlTest : public testing::TestWithParam<std::string> {

 virtual void SetUp() override {
   usb = IUsb::getService(GetParam());
   ASSERT_NE(usb, nullptr);
...
 }

對於每種測試方法，使用宏TEST_P ，如下例所示。

TEST_P(UsbHidlTest, setCallback) {
...
}

使用宏INSTANTIATE_TEST_SUITE_P實例化套件，如下例所示。

INSTANTIATE_TEST_SUITE_P(
       PerInstance, UsbHidlTest,
       testing::ValuesIn(android::hardware::getAllHalInstanceNames(IUsb::descriptor)),
       android::hardware::PrintInstanceNameToString);

論據是：

1. InstantiationName ，可以是與您的測試匹配的任何內容。 PerInstance是一個通用名稱。

2. 測試類名稱。

3. 實例名稱的集合，可以從內置方法中檢索，例如getAllHalInstanceNames 。

4. 打印測試方法名稱的方法。 PrintInstanceNameToString是一個內置名稱，可用於根據實例名稱和測試方法名稱編譯測試名稱。

使用多個輸入進行測試

gtest 支持用於值參數化測試的元組。當 HAL 測試需要使用多個輸入進行測試時（例如，具有多個接口的測試），您可以編寫一個以tuple作為測試參數的 gtest。完整的代碼可以在VtsHalGraphicsMapperV2_1TargetTest中找到。

相比於單一測試參數的 gtest，本次測試需要使用tuple作為測試參數，如下例所示。

class GraphicsMapperHidlTest
   : public ::testing::TestWithParam<std::tuple<std::string, std::string>> {
 protected:
   void SetUp() override {
       ASSERT_NO_FATAL_FAILURE(mGralloc = std::make_unique<Gralloc>(std::get<0>(GetParam()),
                                                                    std::get<1>(GetParam())));
…
}

如果需要更複雜的參數，建議使用結構體和自定義 gtest ToString函數。

為了實例化測試套件，還使用了宏INSTANTIATE\_TEST\_CASE\_P ，但有兩個不同之處：

• 第三個參數是元組的集合（相對於基本情況下的字符串集合）。
• 編譯測試名稱的方法需要支持tuple 。您可以使用內置方法PrintInstanceTupleNameToString ，它可以處理字符串元組，如下例所示。

INSTANTIATE_TEST_CASE_P(
       PerInstance, GraphicsMapperHidlTest,
       testing::Combine(
               testing::ValuesIn(
                       android::hardware::getAllHalInstanceNames(IAllocator::descriptor)),
           testing::ValuesIn(android::hardware::getAllHalInstanceNames(IMapper::descriptor))),
       android::hardware::PrintInstanceTupleNameToString<>);