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IMetricCollector

public interface IMetricCollector
implements ILogSaverListener, IDisableable

com.android.tradefed.device.metric.IMetricCollector

已知的间接子类

BaseDeviceMetricCollector	`IMetricCollector` 的基础实现，允许在 `onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)` 和 `ERROR(/#onTestRunEnd(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData,Map))` 上启动和停止收集。
BugreportzOnFailureCollector	在测试用例失败时收集 bugreportz。
ClangCodeCoverageCollector	一个 `BaseDeviceMetricCollector`，用于从设备中提取 Clang 代码覆盖率测量结果，并将其记录为测试工件。
CountTestCasesCollector	统计并报告给定 `IRemoteTest` 的测试用例数量。
DebugHostLogOnFailureCollector	在发生测试用例失败时，收集并记录主机端日志的收集器。
FilePullerDeviceMetricCollector	一个 `BaseDeviceMetricCollector`，用于监听来自设备的指标键，并将其作为文件从设备中拉取。
FilePullerLogCollector	设备端报告的文件的记录器。
GcovCodeCoverageCollector	一个 `BaseDeviceMetricCollector`，用于从设备中提取 gcov 覆盖率测量结果并将其记录为测试工件。
JavaCodeCoverageCollector	一个 `BaseDeviceMetricCollector`，用于从设备中提取 Java 覆盖率测量结果，并将其记录为测试工件。
LogcatOnFailureCollector	在测试用例失败时捕获并记录 logcat 的收集器。
ScreenshotOnFailureCollector	在测试用例失败时捕获并记录屏幕截图的收集器。

在报告测试结果时，系统会将此接口添加为装饰器，以收集匹配的指标。

此接口无法用作，即使它扩展了 ITestInvocationListener 也是如此。配置检查将拒绝该应用。它必须用作“metrics_collector”。

收集器不应保留内部状态，因为它们可能会在多个位置重复使用。如果确实必须使用内部状态，则应在 init(com.android.tradefed.invoker.IInvocationContext, com.android.tradefed.result.ITestInvocationListener) 上清理该状态。

摘要

公共方法
`abstract`	`getBuildInfos()` 返回调用中可用的 build 信息列表。
`abstract`	`getDevices()` 返回调用中可用的设备列表。
`abstract ITestInvocationListener`	`getInvocationListener()` 返回我们要将结果转发到的原始 `ITestInvocationListener`。
`abstract ITestInvocationListener`	`init(IInvocationContext context, ITestInvocationListener listener)` 使用当前上下文初始化收集器，以及将结果转发到的目的地。
`abstract void`	`onTestAssumptionFailure(DeviceMetricData testData, TestDescription test)` 当测试用例因假设失败而失败时，回调。
`abstract void`	`onTestEnd(DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics)` 测试用例结束时的回调。
`abstract void`	`onTestEnd(DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics, TestDescription test)` 测试用例结束时的回调。
`abstract void`	`onTestFail(DeviceMetricData testData, TestDescription test)` 测试用例失败时的回调。
`abstract void`	`onTestRunEnd(DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)` 测试运行结束时的回调。
`abstract void`	`onTestRunStart(DeviceMetricData runData)` 测试运行开始时的回调。
`abstract void`	`onTestStart(DeviceMetricData testData)` 测试用例启动时的回调。

public abstract  getBuildInfos ()

返回调用中可用的 build 信息列表。

返回

public abstract  getDevices ()

返回调用中可用的设备列表。

返回

public abstract ITestInvocationListener getInvocationListener ()

返回我们要将结果转发到的原始 ITestInvocationListener。

返回
`ITestInvocationListener`

public abstract ITestInvocationListener init (IInvocationContext context, 
                ITestInvocationListener listener)

使用当前上下文初始化收集器，以及将结果转发到的目的地。每个实例仅调用一次，并且收集器应更新其内部上下文和监听器。之前，测试运行期间永远不会调用 init。

除非您知道自己在做什么，否则请勿替换。

参数
`context`	`IInvocationContext`：正在进行的调用的 `IInvocationContext`。
`listener`	`ITestInvocationListener`：用于放置结果的 `ITestInvocationListener`。

返回
`ITestInvocationListener`	封装原始监听器的新监听器。

public abstract void onTestAssumptionFailure (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

当测试用例因假设失败而失败时，回调。

参数
`testData`	`DeviceMetricData`：用于存储测试用例数据的 `DeviceMetricData`。
`test`	`TestDescription`：正在进行的测试用例的 `TestDescription`。

public abstract void onTestEnd (DeviceMetricData testData, 
                 currentTestCaseMetrics)

测试用例结束时的回调。现在应该是清理时间了。

参数
`testData`	`DeviceMetricData`：用于存储测试用例数据的 `DeviceMetricData`。将与 `onTestStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)` 期间相同的对象。
`currentTestCaseMetrics`	：传递给 `ITestLifeCycleReceiver.testEnded(com.android.tradefed.result.TestDescription, Map)` 的当前指标映射。

public abstract void onTestEnd (DeviceMetricData testData, 
                 currentTestCaseMetrics, 
                TestDescription test)

测试用例结束时的回调。现在应该是清理时间了。

参数
`testData`	`DeviceMetricData`：用于存储测试用例数据的 `DeviceMetricData`。将与 `onTestStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)` 期间相同的对象。
`currentTestCaseMetrics`	：传递给 `ITestLifeCycleReceiver.testEnded(com.android.tradefed.result.TestDescription, Map)` 的当前指标映射。
`test`	`TestDescription`：正在进行的测试用例的 `TestDescription`。

public abstract void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

测试用例失败时的回调。

参数
`testData`	`DeviceMetricData`：用于存储测试用例数据的 `DeviceMetricData`。
`test`	`TestDescription`：正在进行的测试用例的 `TestDescription`。

public abstract void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData, 
                 currentRunMetrics)

测试运行结束时的回调。现在应该是清理时间了。

参数
`runData`	`DeviceMetricData`：用于存储运行数据的 `DeviceMetricData`。将与 `onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)` 期间相同的对象。
`currentRunMetrics`	：传递给 `ITestLifeCycleReceiver.testRunEnded(long, Map)` 的当前指标映射。

public abstract void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

测试运行开始时的回调。

参数
`runData`	`DeviceMetricData`：用于存储运行数据的 `DeviceMetricData`。

public abstract void onTestStart (DeviceMetricData testData)

测试用例启动时的回调。

参数
`testData`	`DeviceMetricData`：用于存储测试用例数据的 `DeviceMetricData`。