此页面由 Cloud Translation API 翻译。

度量收集器

public interface IMetricCollector
implements ILogSaverListener , IDisableable

com.android.tradefed.device.metric.IMetricCollector

已知的间接子类

AtraceCollector 、 AtraceRunMetricCollector 、 BaseDeviceMetricCollector 、 BluetoothConnectionLatencyCollector 、 BluetoothConnectionStateCollector 、 BluetoothHciSnoopLogCollector 、 BugreportzOnFailureCollector 、 BugreportzOnTestCaseFailureCollector 、 ClangCodeCoverageCollector 、 CountTestCasesCollector 、 DebugHostLogOnFailureCollector 、 DeviceTraceCo llector 、 FilePullerDeviceMetricCollector 、 FilePullerLogCollector 、 GcovCodeCoverageCollector和其他 12 个。

Atrace收集器	`IMetricCollector`在测试期间运行 atrace 并收集结果并将其记录到调用中。
AtraceRunMetricCollector	从测试设备的给定目录下的所有测试目录收集跟踪，记录测试目录并对测试目录下的跟踪文件进行后处理并聚合指标。
基础设备指标收集器	`IMetricCollector`的基本实现，允许在`onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)`和`ERROR(/#onTestRunEnd(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData,Map))`上启动和停止收集。
蓝牙连接延迟收集器	收集器会将预定义的 statsd 持续时间指标配置推送到设备，并收集每个配置文件的蓝牙连接持续时间。
蓝牙连接状态收集器	该收集器将收集BluetoothConnectionStateChanged 指标并记录每个配置文件的连接状态编号。
蓝牙HciSnoopLogCollector	收集器，用于在 DUT 上启用蓝牙 HCI 监听日志记录并收集每个测试的日志。
BugreportzOnFailureCollector	当测试用例失败时收集错误报告。
BugreportzOnTestCaseFailureCollector	当运行中的测试用例失败时收集错误报告。
ClangCodeCoverageCollector	`BaseDeviceMetricCollector`将从设备中提取 Clang 覆盖率测量结果并将其记录为测试工件。
计数测试用例收集器	计算并报告给定`IRemoteTest`测试用例数量。
调试主机登录失败收集器	当测试用例发生故障时，收集器将收集并记录主机端日志。
设备跟踪收集器	收集器将在测试运行开始时启动 perfetto 跟踪并在结束时记录跟踪文件。
FilePullerDeviceMetricCollector	一个`BaseDeviceMetricCollector` ，用于侦听来自设备的指标键并将它们作为文件从设备中提取。
文件拉取日志收集器	设备端上报的文件记录器。
GcovCodeCoverageCollector	一个`BaseDeviceMetricCollector` ，将从设备中提取 gcov 覆盖率测量结果并将其记录为测试工件。
GcovKernelCodeCoverageCollector	一个`BaseDeviceMetricCollector` ，它将从 debugfs 和设备中提取 gcov 内核覆盖率测量结果，然后最终将它们记录为测试工件。
HostStatsdMetricCollector	`IMetricCollector` ，使用 statsd 实用程序命令从主机端收集 statsd 指标。
Java代码覆盖率收集器	`BaseDeviceMetricCollector`将从设备中提取 Java 覆盖率测量结果并将其记录为测试工件。
LogcatOnFailureCollector 日志收集器	当测试用例失败时，收集器将捕获并记录 logcat。
LogcatTimingMetricCollector	一种度量收集器，通过使用给定的正则表达式模式从 logcat 行解析事件的开始和结束信号，在一个或多个重复测试期间从 logcat 收集计时信息（例如用户切换时间）。
模块LogcatCollector	logcat 收集器的版本，但用于模块。
PerfettoPullerMetricCollector	`FilePullerDeviceMetricCollector`的基本实现，允许从设备中提取 perfetto 文件并从中收集指标。
重启原因收集器	收集器在测试运行期间收集设备重新启动并按原因和计数进行报告。
运行时重启收集器	收集测试运行期间运行时重新启动（系统服务器崩溃）时间戳的收集器（如果有）。
故障收集器屏幕截图	当测试用例失败时，收集器将捕获并记录屏幕截图。
显示地图PullerMetricCollector	`FilePullerDeviceMetricCollector`的基本实现，允许从设备中提取显示地图文件并从中收集指标。
跟踪命令收集器	`IMetricCollector`在测试期间使用trace-cmd 收集跟踪，并将其记录到调用中。

在报告测试结果时，该接口将作为装饰器添加，以收集匹配的指标。

该接口不能用作甚至它扩展了ITestInvocationListener 。配置检查将拒绝它。它必须用作“metrics_collector”。

收集器不应保留内部状态，因为它们可能会在多个地方重复使用。如果确实必须使用内部状态，则应在init(com.android.tradefed.invoker.IInvocationContext, com.android.tradefed.result.ITestInvocationListener)上清理它。

概括

公共方法
`default boolean`	`captureModuleLevel ()` 收集器是否适用于模块级捕获并且应该是 init 的。
`abstract`	`getBuildInfos ()` 返回调用中可用的构建信息列表。
`abstract`	`getDevices ()` 返回调用中可用的设备列表。
`abstract ITestInvocationListener`	`getInvocationListener ()` 返回我们在其中转发结果的原始`ITestInvocationListener` 。
`abstract ITestInvocationListener`	`init ( IInvocationContext context, ITestInvocationListener listener)` 使用当前上下文以及将结果转发到的位置来初始化收集器。
`abstract void`	`onTestAssumptionFailure ( DeviceMetricData testData, TestDescription test)` 当测试用例因假设失败而失败时的回调。
`abstract void`	`onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics, TestDescription test)` `onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics, TestDescription test)` 测试用例结束时的回调。
`abstract void`	`onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics)` `onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics)` 测试用例结束时的回调。
`abstract void`	`onTestFail ( DeviceMetricData testData, TestDescription test)` 测试用例失败时的回调。
`default void`	`onTestModuleEnded ()` 允许捕获模块结束事件。
`default void`	`onTestModuleStarted ()` 允许捕获模块启动事件。
`abstract void`	`onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)` `onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)` 测试运行结束时的回调。
`abstract void`	`onTestRunStart ( DeviceMetricData runData)` 测试运行开始时的回调。
`default void`	`onTestRunStart ( DeviceMetricData runData, int testCount)` 测试运行开始时的回调。
`abstract void`	`onTestStart ( DeviceMetricData testData)` 测试用例启动时的回调。

公共方法

捕获模块级别

public boolean captureModuleLevel ()

收集器是否适用于模块级捕获并且应该是 init 的。

退货
`boolean`

获取构建信息

public abstract  getBuildInfos ()

返回调用中可用的构建信息列表。

退货

获取设备

public abstract  getDevices ()

返回调用中可用的设备列表。

退货

获取调用监听器

public abstract ITestInvocationListener getInvocationListener ()

返回我们在其中转发结果的原始ITestInvocationListener 。

退货
`ITestInvocationListener`

在里面

public abstract ITestInvocationListener init (IInvocationContext context, 
                ITestInvocationListener listener)

使用当前上下文以及将结果转发到的位置来初始化收集器。每个实例只会调用一次，并且收集器预计会更新其内部上下文和侦听器。以前在测试运行期间永远不会调用 Init。

除非您知道自己在做什么，否则请勿覆盖。

参数
`context`	`IInvocationContext` ：正在进行的调用的`IInvocationContext` 。
`listener`	`ITestInvocationListener` ： `ITestInvocationListener`放置结果的位置。

退货
`ITestInvocationListener`	新的监听器包裹了原来的监听器。

投掷
`DeviceNotAvailableException`

测试假设失败

public abstract void onTestAssumptionFailure (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

当测试用例因假设失败而失败时的回调。

参数
`testData`	`DeviceMetricData` ：保存测试用例数据的`DeviceMetricData` 。
`test`	`TestDescription` ：正在进行的测试用例的`TestDescription` 。

投掷
`DeviceNotAvailableException`

测试结束时

public abstract void onTestEnd (DeviceMetricData testData, 
                 currentTestCaseMetrics, 
                TestDescription test)

测试用例结束时的回调。这应该是清理的时间。

参数
`testData`	`DeviceMetricData` ：保存测试用例数据的`DeviceMetricData` 。将与`onTestStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)`期间的对象相同。
`currentTestCaseMetrics`	：传递给`ERROR(/#testEnded(com.android.tradefed.result.TestDescription,Map))`的当前指标映射。
`test`	`TestDescription` ：正在进行的测试用例的`TestDescription` 。

投掷
`DeviceNotAvailableException`

测试结束时

public abstract void onTestEnd (DeviceMetricData testData, 
                 currentTestCaseMetrics)

测试用例结束时的回调。这应该是清理的时间。

参数
`testData`	`DeviceMetricData` ：保存测试用例数据的`DeviceMetricData` 。将与`onTestStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)`期间的对象相同。
`currentTestCaseMetrics`	：传递给`ERROR(/#testEnded(com.android.tradefed.result.TestDescription,Map))`的当前指标映射。

投掷
`DeviceNotAvailableException`

测试失败时

public abstract void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

测试用例失败时的回调。

参数
`testData`	`DeviceMetricData` ：保存测试用例数据的`DeviceMetricData` 。
`test`	`TestDescription` ：正在进行的测试用例的`TestDescription` 。

投掷
`DeviceNotAvailableException`

测试模块结束时

public void onTestModuleEnded ()

允许捕获模块结束事件。

投掷
	com.android.tradefed.device.DeviceNotAvailableException
`DeviceNotAvailableException`

测试模块启动

public void onTestModuleStarted ()

允许捕获模块启动事件。

投掷
	com.android.tradefed.device.DeviceNotAvailableException
`DeviceNotAvailableException`

测试运行结束时

public abstract void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData, 
                 currentRunMetrics)

测试运行结束时的回调。这应该是清理的时间。

参数
`runData`	`DeviceMetricData` ：保存运行数据的`DeviceMetricData` 。将与`onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)`期间的对象相同。
`currentRunMetrics`	：传递给`ERROR(/#testRunEnded(long,Map))`的当前指标映射。

投掷
`DeviceNotAvailableException`

测试运行开始时

public abstract void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

测试运行开始时的回调。

参数
`runData`	`DeviceMetricData` ：保存运行数据的`DeviceMetricData` 。

投掷
`DeviceNotAvailableException`

测试运行开始时

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData, 
                int testCount)

测试运行开始时的回调。

参数
`runData`	`DeviceMetricData` ：保存运行数据的`DeviceMetricData` 。
`testCount`	`int` ：本次测试运行中的测试用例数量。

投掷
`DeviceNotAvailableException`

测试开始时

public abstract void onTestStart (DeviceMetricData testData)

测试用例启动时的回调。

参数
`testData`	`DeviceMetricData` ：保存测试用例数据的`DeviceMetricData` 。

投掷
`DeviceNotAvailableException`