Halaman ini diterjemahkan oleh Cloud Translation API.

LogcatOnFailureCollector

public class LogcatOnFailureCollector
extends BaseDeviceMetricCollector

java.lang.Objek
↳	com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
	↳	com.android.tradefed.device.metric.LogcatOnFailureCollector

Subkelas langsung yang dikenal

ModuleLogcatCollector Versi kolektor logcat tetapi untuk modul.

Kolektor yang akan menangkap dan mencatat logcat saat kasus uji gagal.

Ringkasan

Konstruktor publik
`LogcatOnFailureCollector ()`

Metode publik
`void`	`onTestFail ( DeviceMetricData testData, TestDescription test)` Callback saat test case gagal.
`void`	`onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)` `onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)` Panggilan balik saat uji coba berakhir.
`void`	`onTestRunFailed ( DeviceMetricData testData, FailureDescription failure)` Panggilan balik untuk acara testRunFailed
`void`	`onTestRunStart ( DeviceMetricData runData)` Panggilan balik saat uji coba dimulai.
`void`	`onTestStart ( DeviceMetricData testData)` Callback saat test case dimulai.

Metode yang dilindungi
`void`	`collectAndLog (String testName, int size)`

public LogcatOnFailureCollector ()

public void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

Callback saat test case gagal.

Parameter
`testData`	`DeviceMetricData` : `DeviceMetricData` menyimpan data untuk kasus uji.
`test`	`TestDescription` : `TestDescription` dari test case yang sedang berlangsung.

Melempar
`DeviceNotAvailableException`

public void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData, 
                 currentRunMetrics)

Panggilan balik saat uji coba berakhir. Ini harus menjadi waktu untuk membersihkan.

Parameter
`runData`	`DeviceMetricData` : `DeviceMetricData` menyimpan data untuk dijalankan. Akan menjadi objek yang sama seperti selama `onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)` .
`currentRunMetrics`	: peta metrik saat ini diteruskan ke `ERROR(/#testRunEnded(long,Map))` .

public void onTestRunFailed (DeviceMetricData testData, 
                FailureDescription failure)

Panggilan balik untuk acara testRunFailed

Melempar
`DeviceNotAvailableException`

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

Panggilan balik saat uji coba dimulai.

Parameter
`runData`	`DeviceMetricData` : `DeviceMetricData` menyimpan data untuk dijalankan.

public void onTestStart (DeviceMetricData testData)

Callback saat test case dimulai.

Parameter
`testData`	`DeviceMetricData` : `DeviceMetricData` menyimpan data untuk kasus uji.

protected void collectAndLog (String testName, 
                int size)

Parameter
`testName`	`String`
`size`	`int`

Melempar
`DeviceNotAvailableException`