跟踪收集器
public class AtraceCollector
extends BaseDeviceMetricCollector
java.lang.Object | ||
↳ | com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector | |
↳ | com.android.tradefed.device.metric.AtraceCollector |
在測試期間運行 atrace 並收集結果並將其記錄到調用中的IMetricCollector
。
概括
公共構造函數 | |
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AtraceCollector () |
公共方法 | |
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void | onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics, TestDescription test) onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics, TestDescription test) 測試用例結束時的回調。 |
void | onTestStart ( DeviceMetricData testData) 測試用例啟動時的回調。 |
受保護的方法 | |
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String | fullLogPath () |
LogDataType | getLogType () |
void | startTracing ( ITestDevice device) |
void | stopTracing ( ITestDevice device) |
公共構造函數
跟踪收集器
public AtraceCollector ()
公共方法
在測試結束時
public void onTestEnd (DeviceMetricData testData,currentTestCaseMetrics, TestDescription test)
測試用例結束時的回調。這應該是清理的時間。
參數 | |
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testData | DeviceMetricData :保存測試用例數據的DeviceMetricData 。將與onTestStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData) 期間的對象相同。 |
currentTestCaseMetrics | ERROR(/#testEnded(com.android.tradefed.result.TestDescription,Map)) 當前指標圖。 |
test | TestDescription :正在進行的測試用例的TestDescription 。 |
投擲 | |
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DeviceNotAvailableException |
onTestStart
public void onTestStart (DeviceMetricData testData)
測試用例啟動時的回調。
參數 | |
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testData | DeviceMetricData :保存測試用例數據的DeviceMetricData 。 |
投擲 | |
---|---|
DeviceNotAvailableException |
受保護的方法
完整日誌路徑
protected String fullLogPath ()
退貨 | |
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String |
開始追踪
protected void startTracing (ITestDevice device)
參數 | |
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device | ITestDevice |
投擲 | |
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DeviceNotAvailableException |
停止追踪
protected void stopTracing (ITestDevice device)
參數 | |
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device | ITestDevice |
投擲 | |
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DeviceNotAvailableException |