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指標收集器

public interface IMetricCollector
implements ILogSaverListener , IDisableable

com.android.tradefed.device.metric.IMetricCollector

已知的間接子類

AtraceCollector , AtraceRunMetricCollector , BaseDeviceMetricCollector , BluetoothConnectionLatencyCollector , BluetoothConnectionStateCollector , BluetoothHciSnoopLogCollector , BugreportzOnFailureCollector , BugreportzOnTestCaseFailureCollector , ClangCodeCoverageCollector , CountTestCasesCollector , DebugHostLogOnFailureCollector , DeviceTraceCollector , FilePullerDeviceMetricCollector , FilePullerLogCollector , GcovCodeCoverageCollector , and 12 others.

跟踪收集器	在測試期間運行 atrace 並收集結果並將其記錄到調用中的`IMetricCollector` 。
AtraceRunMetricCollector	從測試設備的給定目錄下的所有測試目錄中收集跟踪，記錄測試目錄併後處理測試目錄下的跟踪文件並聚合指標。
BaseDeviceMetricCollector	`IMetricCollector`的基本實現，允許在`onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)`和`ERROR(/#onTestRunEnd(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData,Map))`上開始和停止收集。
BluetoothConnectionLatencyCollector	收集器會將預定義的 statsd 持續時間指標配置推送到設備，並收集每個配置文件的藍牙連接持續時間。
藍牙連接狀態收集器	此收集器將收集 BluetoothConnectionStateChanged 指標並記錄每個配置文件的連接狀態數。
藍牙HciSnoopLog收集器	收集器，用於在 DUT 上啟用藍牙 HCI 偵聽日誌記錄並收集每個測試的日誌。
BugreportzOnFailureCollector	當測試用例失敗時收集錯誤報告。
錯誤報告 zOnTestCaseFailureCollector	當運行中的測試用例失敗時收集錯誤報告。
ClangCodeCoverageCollector	一個`BaseDeviceMetricCollector` ，它將從設備中提取 Clang 覆蓋測量並將它們記錄為測試工件。
計數測試用例收集器	計算並報告給定`IRemoteTest`測試用例數。
DebugHostLogOnFailureCollector	發生測試用例失敗時收集並記錄主機端日誌的收集器。
設備跟踪收集器	收集器將在測試運行開始時啟動 perfetto trace 並在結束時記錄跟踪文件。
FilePullerDeviceMetricCollector	一個`BaseDeviceMetricCollector` ，它偵聽來自設備的指標鍵並將它們作為文件從設備中提取。
FilePuller日誌收集器	設備端上報文件的Logger。
GcovCodeCoverageCollector	一個`BaseDeviceMetricCollector` ，它將從設備中提取 gcov 覆蓋測量並將它們記錄為測試工件。
GcovKernelCodeCoverageCollector	一個`BaseDeviceMetricCollector` ，它將 gcov 內核覆蓋測量從 debugfs 和設備中拉出，然後最終將它們記錄為測試工件。
HostStatsdMetricCollector	一個`IMetricCollector` ，它使用 statsd 實用程序命令從主機端收集 statsd 指標。
JavaCodeCoverageCollector	一個`BaseDeviceMetricCollector` ，它將從設備中提取 Java 覆蓋率測量並將它們記錄為測試工件。
LogcatOnFailure 收集器	當測試用例失敗時將捕獲並記錄 logcat 的收集器。
LogcatTimingMetricCollector	一種度量收集器，通過使用給定的正則表達式模式從 logcat 行解析事件的開始和結束信號，在一次或多次重複測試期間從 logcat 收集計時信息（例如用戶切換時間）。
模塊LogcatCollector	logcat 收集器的版本，但用於模塊。
PerfettoPullerMetricCollector	`FilePullerDeviceMetricCollector`的基本實現，允許從設備中拉取 perfetto 文件並從中收集指標。
重啟原因收集器	在測試運行期間收集設備重啟並按原因和計數報告的收集器。
運行時重啟收集器	收集測試運行期間運行時重啟（系統服務器崩潰）時間戳的收集器（如果有）。
ScreenshotOnFailure收集器	當測試用例失敗時將捕獲並記錄屏幕截圖的收集器。
ShowmapPullerMetricCollector	`FilePullerDeviceMetricCollector`的基本實現，它允許從設備中拉取顯示地圖文件並從中收集指標。
跟踪命令收集器	一個`IMetricCollector` ，它在測試期間使用 trace-cmd 收集跟踪，並將它們記錄到調用中。

當報告測試結果以收集匹配指標時，此接口將作為裝飾器添加。

該接口不能用作甚至它擴展了ITestInvocationListener 。配置檢查將拒絕它。它必須用作“metrics_collector”。

收集器不應保持內部狀態，因為它們可能會在多個地方重複使用。如果確實必須使用內部狀態，則應在init(com.android.tradefed.invoker.IInvocationContext, com.android.tradefed.result.ITestInvocationListener)上清除它。

概括

公共方法
`default boolean`	`captureModuleLevel ()` 收集器是否適用於模塊級捕獲，應該是init。
`abstract`	`getBuildInfos ()` 返回調用中可用的構建信息列表。
`abstract`	`getDevices ()` 返回調用中可用的設備列表。
`abstract ITestInvocationListener`	`getInvocationListener ()` 返回我們轉發結果的原始`ITestInvocationListener` 。
`abstract ITestInvocationListener`	`init ( IInvocationContext context, ITestInvocationListener listener)` 使用當前上下文和轉發結果的位置初始化收集器。
`abstract void`	`onTestAssumptionFailure ( DeviceMetricData testData, TestDescription test)` 當測試用例因假設失敗而失敗時回調。
`abstract void`	`onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics, TestDescription test)` `onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics, TestDescription test)` 測試用例結束時的回調。
`abstract void`	`onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics)` `onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics)` 測試用例結束時的回調。
`abstract void`	`onTestFail ( DeviceMetricData testData, TestDescription test)` 測試用例失敗時回調。
`default void`	`onTestModuleEnded ()` 允許捕獲模塊結束事件。
`default void`	`onTestModuleStarted ()` 允許捕獲模塊啟動事件。
`abstract void`	`onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)` `onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)` 測試運行結束時回調。
`abstract void`	`onTestRunStart ( DeviceMetricData runData)` 測試運行開始時的回調。
`default void`	`onTestRunStart ( DeviceMetricData runData, int testCount)` 測試運行開始時的回調。
`abstract void`	`onTestStart ( DeviceMetricData testData)` 測試用例啟動時的回調。

公共方法

捕獲模塊級別

public boolean captureModuleLevel ()

收集器是否適用於模塊級捕獲，應該是init。

退貨
`boolean`

獲取構建信息

public abstract  getBuildInfos ()

返回調用中可用的構建信息列表。

退貨

獲取設備

public abstract  getDevices ()

返回調用中可用的設備列表。

退貨

getInvocationListener

public abstract ITestInvocationListener getInvocationListener ()

返回我們轉發結果的原始ITestInvocationListener 。

退貨
`ITestInvocationListener`

在裡面

public abstract ITestInvocationListener init (IInvocationContext context, 
                ITestInvocationListener listener)

使用當前上下文和轉發結果的位置初始化收集器。每個實例只會調用一次，收集器應該更新其內部上下文和偵聽器。 Init 永遠不會在之前的測試運行期間被調用。

除非您知道自己在做什麼，否則不要覆蓋。

參數
`context`	`IInvocationContext` ：正在進行的調用的`IInvocationContext` 。
`listener`	`ITestInvocationListener` ：放置結果的`ITestInvocationListener` 。

退貨
`ITestInvocationListener`	新的聽眾包裝了原來的聽眾。

投擲
`DeviceNotAvailableException`

測試假設失敗

public abstract void onTestAssumptionFailure (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

當測試用例因假設失敗而失敗時回調。

參數
`testData`	`DeviceMetricData` ：保存測試用例數據的`DeviceMetricData` 。
`test`	`TestDescription` ：正在進行的測試用例的`TestDescription` 。

投擲
`DeviceNotAvailableException`

在測試結束時

public abstract void onTestEnd (DeviceMetricData testData, 
                 currentTestCaseMetrics, 
                TestDescription test)

測試用例結束時的回調。這應該是清理的時間。

參數
`testData`	`DeviceMetricData` ：保存測試用例數據的`DeviceMetricData` 。將與`onTestStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)`期間的對象相同。
`currentTestCaseMetrics`	：傳遞給`ERROR(/#testEnded(com.android.tradefed.result.TestDescription,Map))`當前指標圖。
`test`	`TestDescription` ：正在進行的測試用例的`TestDescription` 。

投擲
`DeviceNotAvailableException`

在測試結束時

public abstract void onTestEnd (DeviceMetricData testData, 
                 currentTestCaseMetrics)

測試用例結束時的回調。這應該是清理的時間。

參數
`testData`	`DeviceMetricData` ：保存測試用例數據的`DeviceMetricData` 。將與`onTestStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)`期間的對象相同。
`currentTestCaseMetrics`	：傳遞給`ERROR(/#testEnded(com.android.tradefed.result.TestDescription,Map))`當前指標圖。

投擲
`DeviceNotAvailableException`

測試失敗

public abstract void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

測試用例失敗時回調。

參數
`testData`	`DeviceMetricData` ：保存測試用例數據的`DeviceMetricData` 。
`test`	`TestDescription` ：正在進行的測試用例的`TestDescription` 。

投擲
`DeviceNotAvailableException`

onTestModule結束

public void onTestModuleEnded ()

允許捕獲模塊結束事件。

投擲
	com.android.tradefed.device.DeviceNotAvailableException
`DeviceNotAvailableException`

onTestModuleStarted

public void onTestModuleStarted ()

允許捕獲模塊啟動事件。

投擲
	com.android.tradefed.device.DeviceNotAvailableException
`DeviceNotAvailableException`

onTestRun結束

public abstract void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData, 
                 currentRunMetrics)

測試運行結束時回調。這應該是清理的時間。

參數
`runData`	`DeviceMetricData` ：保存運行數據的`DeviceMetricData` 。將與`onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)`期間的對象相同。
`currentRunMetrics`	：傳遞給`ERROR(/#testRunEnded(long,Map))`的當前指標圖。

投擲
`DeviceNotAvailableException`

onTestRunStart

public abstract void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

測試運行開始時的回調。

參數
`runData`	`DeviceMetricData` ：保存運行數據的`DeviceMetricData` 。

投擲
`DeviceNotAvailableException`

onTestRunStart

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData, 
                int testCount)

測試運行開始時的回調。

參數
`runData`	`DeviceMetricData` ：保存運行數據的`DeviceMetricData` 。
`testCount`	`int` ：本次測試運行中的測試用例數。

投擲
`DeviceNotAvailableException`

onTestStart

public abstract void onTestStart (DeviceMetricData testData)

測試用例啟動時的回調。

參數
`testData`	`DeviceMetricData` ：保存測試用例數據的`DeviceMetricData` 。

投擲
`DeviceNotAvailableException`