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度量收集器

public interface IMetricCollector
implements ILogSaverListener , IDisableable

com.android.tradefed.device.metric.IMetricCollector

已知的間接子類

AtraceCollector 、 AtraceRunMetricCollector 、 BaseDeviceMetricCollector 、 BluetoothConnectionLatencyCollector 、 BluetoothConnectionStateCollector 、 BluetoothHciSnoopLogCollector 、 BugreportzOnFailureCollector 、 BugzOnTotase reportzCollectorCollectorCollectorCollector 。 ostLogOnFailureCollector 、 DeviceTraceCo llector 、 FilePullerDeviceMetricCollector 、 FilePullerLogCollector 、 GcovCodeCoverageCollector和其他 12 個。

Atrace收集器	`IMetricCollector`在測試期間執行 atrace 並收集結果並將其記錄到呼叫中。
AtraceRunMetricCollector	從測試設備的給定目錄下的所有測試目錄收集跟踪，記錄測試目錄並對測試目錄下的跟踪文件進行後處理並聚合指標。
基礎設備指標收集器	`IMetricCollector`的基本實現，允許在`onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)`和`ERROR(/#onTestRunEnd(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData,Map))`上啟動和停止收集。
藍牙連線延遲收集器	收集器會將預先定義的 statsd 持續時間指標配置推送到設備，並收集每個設定檔的藍牙連接持續時間。
藍牙連線狀態收集器	此收集器將收集BluetoothConnectionStateChanged 指標並記錄每個設定檔的連線狀態編號。
藍牙HciSnoopLogCollector	收集器，用於在 DUT 上啟用藍牙 HCI 監聽日誌記錄並收集每個測試的日誌。
BugreportzOnFailureCollector	當測試用例失敗時收集錯誤報告。
BugreportzOnTestCaseFailureCollector	當運行中的測試用例失敗時收集錯誤報告。
ClangCodeCoverageCollector	`BaseDeviceMetricCollector`將從裝置中擷取 Clang 覆蓋率測量結果並將其記錄為測試工件。
計數測試用例收集器	計算並報告給定`IRemoteTest`測試案例數量。
調試主機登入失敗收集器	當測試案例發生故障時，收集器將收集並記錄主機端日誌。
設備追蹤收集器	收集器將在測試運行開始時啟動 perfetto 追蹤並在結束時記錄追蹤檔案。
FilePullerDeviceMetricCollector	一個`BaseDeviceMetricCollector` ，用於偵聽來自裝置的指標鍵並將它們作為檔案從裝置中提取。
文件拉取日誌收集器	設備端上報的文件記錄器。
GcovCodeCoverageCollector	一個`BaseDeviceMetricCollector` ，將從裝置中提取 gcov 覆蓋率測量結果並將其記錄為測試工件。
GcovKernelCodeCoverageCollector	一個`BaseDeviceMetricCollector` ，它將從 debugfs 和裝置中提取 gcov 核心覆蓋率測量結果，然後最終將它們記錄為測試工件。
HostStatsdMetricCollector	`IMetricCollector` ，使用 statsd 公用程式指令從主機端收集 statsd 指標。
Java程式碼覆蓋率收集器	`BaseDeviceMetricCollector`將從裝置中擷取 Java 覆蓋率測量結果並將其記錄為測試工件。
LogcatOnFailureCollector 日誌收集器	當測試用例失敗時，收集器將捕獲並記錄 logcat。
LogcatTimingMetricCollector	一種度量收集器，透過使用給定的正規表示式模式從 logcat 行解析事件的開始和結束訊號，在一個或多個重複測試期間從 logcat 收集計時資訊（例如使用者切換時間）。
模組LogcatCollector	logcat 收集器的版本，但用於模組。
PerfettoPullerMetricCollector	`FilePullerDeviceMetricCollector`的基本實現，允許從裝置中提取 perfetto 檔案並從中收集指標。
重啟原因收集器	收集器在測試運行期間收集設備重新啟動並按原因和計數進行報告。
運行時重新啟動收集器	收集測試運行期間運行時重新啟動（系統伺服器崩潰）時間戳記的收集器（如果有）。
故障收集器螢幕截圖	當測試用例失敗時，收集器將捕獲並記錄螢幕截圖。
顯示地圖PullerMetricCollector	`FilePullerDeviceMetricCollector`的基本實現，允許從裝置中提取顯示地圖檔案並從中收集指標。
追蹤命令收集器	`IMetricCollector`在測試期間使用trace-cmd 收集跟踪，並將其記錄到呼叫中。

在報告測試結果時，該介面將作為裝飾器添加，以收集匹配的指標。

此介面不能用作甚至它擴充了ITestInvocationListener 。配置檢查將拒絕它。它必須用作“metrics_collector”。

收集器不應保留內部狀態，因為它們可能會在多個地方重複使用。如果確實必須使用內部狀態，則應在init(com.android.tradefed.invoker.IInvocationContext, com.android.tradefed.result.ITestInvocationListener)上清理它。

概括

公共方法
`default boolean`	`captureModuleLevel ()` 收集器是否適用於模組級捕獲並且應該是 init 的。
`abstract`	`getBuildInfos ()` 傳回呼叫中可用的建置資訊列表。
`abstract`	`getDevices ()` 傳回呼叫中可用的設備清單。
`abstract ITestInvocationListener`	`getInvocationListener ()` 傳回我們在其中轉送結果的原始`ITestInvocationListener` 。
`abstract ITestInvocationListener`	`init ( IInvocationContext context, ITestInvocationListener listener)` 使用當前上下文以及將結果轉送到的位置來初始化收集器。
`abstract void`	`onTestAssumptionFailure ( DeviceMetricData testData, TestDescription test)` 當測試用例因假設失敗而失敗時的回調。
`abstract void`	`onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics, TestDescription test)` `onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics, TestDescription test)` 測試用例結束時的回調。
`abstract void`	`onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics)` `onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics)` 測試用例結束時的回調。
`abstract void`	`onTestFail ( DeviceMetricData testData, TestDescription test)` 測試用例失敗時的回調。
`default void`	`onTestModuleEnded ()` 允許捕獲模組結束事件。
`default void`	`onTestModuleStarted ()` 允許捕獲模組啟動事件。
`abstract void`	`onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)` `onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)` 測試運行結束時的回調。
`abstract void`	`onTestRunStart ( DeviceMetricData runData)` 測試運行開始時的回調。
`default void`	`onTestRunStart ( DeviceMetricData runData, int testCount)` 測試運行開始時的回調。
`abstract void`	`onTestStart ( DeviceMetricData testData)` 測試用例啟動時的回調。

公共方法

捕獲模組級別

public boolean captureModuleLevel ()

收集器是否適用於模組級捕獲並且應該是 init 的。

退貨
`boolean`

獲取建構資訊

public abstract  getBuildInfos ()

傳回呼叫中可用的建置資訊列表。

退貨

取得設備

public abstract  getDevices ()

傳回呼叫中可用的設備清單。

退貨

取得呼叫監聽器

public abstract ITestInvocationListener getInvocationListener ()

傳回我們在其中轉發結果的原始ITestInvocationListener 。

退貨
`ITestInvocationListener`

在裡面

public abstract ITestInvocationListener init (IInvocationContext context, 
                ITestInvocationListener listener)

使用當前上下文以及將結果轉送到的位置來初始化收集器。每個實例只會呼叫一次，並且收集器預計會更新其內部上下文和偵聽器。以前在測試運行期間永遠不會呼叫 Init。

除非您知道自己在做什麼，否則請勿覆蓋。

參數
`context`	`IInvocationContext` ：正在進行的呼叫的`IInvocationContext` 。
`listener`	`ITestInvocationListener` ： `ITestInvocationListener`放置結果的位置。

退貨
`ITestInvocationListener`	新的監聽器包裹了原來的監聽器。

投擲
`DeviceNotAvailableException`

測試假設失敗

public abstract void onTestAssumptionFailure (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

當測試用例因假設失敗而失敗時的回調。

參數
`testData`	`DeviceMetricData` ：儲存測試用例資料的`DeviceMetricData` 。
`test`	`TestDescription` ：正在進行的測試案例的`TestDescription` 。

投擲
`DeviceNotAvailableException`

測試結束時

public abstract void onTestEnd (DeviceMetricData testData, 
                 currentTestCaseMetrics, 
                TestDescription test)

測試用例結束時的回調。這應該是清理的時間。

參數
`testData`	`DeviceMetricData` ：儲存測試用例資料的`DeviceMetricData` 。將與`onTestStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)`期間的物件相同。
`currentTestCaseMetrics`	：傳遞給`ERROR(/#testEnded(com.android.tradefed.result.TestDescription,Map))`的目前指標映射。
`test`	`TestDescription` ：正在進行的測試案例的`TestDescription` 。

投擲
`DeviceNotAvailableException`

測試結束時

public abstract void onTestEnd (DeviceMetricData testData, 
                 currentTestCaseMetrics)

測試用例結束時的回調。這應該是清理的時間。

參數
`testData`	`DeviceMetricData` ：儲存測試用例資料的`DeviceMetricData` 。將與`onTestStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)`期間的物件相同。
`currentTestCaseMetrics`	：傳遞給`ERROR(/#testEnded(com.android.tradefed.result.TestDescription,Map))`的目前指標映射。

投擲
`DeviceNotAvailableException`

測試失敗時

public abstract void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

測試用例失敗時的回調。

參數
`testData`	`DeviceMetricData` ：儲存測試用例資料的`DeviceMetricData` 。
`test`	`TestDescription` ：正在進行的測試案例的`TestDescription` 。

投擲
`DeviceNotAvailableException`

測試模組結束時

public void onTestModuleEnded ()

允許捕獲模組結束事件。

投擲
	com.android.tradefed.device.DeviceNotAvailableException
`DeviceNotAvailableException`

測試模組啟動

public void onTestModuleStarted ()

允許捕獲模組啟動事件。

投擲
	com.android.tradefed.device.DeviceNotAvailableException
`DeviceNotAvailableException`

測試運行結束時

public abstract void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData, 
                 currentRunMetrics)

測試運行結束時的回調。這應該是清理的時間。

參數
`runData`	`DeviceMetricData` ：儲存運行資料的`DeviceMetricData` 。將與`onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)`期間的物件相同。
`currentRunMetrics`	：傳遞給`ERROR(/#testRunEnded(long,Map))`目前指標映射。

投擲
`DeviceNotAvailableException`

測試運行開始時

public abstract void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

測試運行開始時的回調。

參數
`runData`	`DeviceMetricData` ：儲存運行資料的`DeviceMetricData` 。

投擲
`DeviceNotAvailableException`

測試運行開始時

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData, 
                int testCount)

測試運行開始時的回調。

參數
`runData`	`DeviceMetricData` ：儲存運行資料的`DeviceMetricData` 。
`testCount`	`int` ：本次測試運行中的測試案例數量。

投擲
`DeviceNotAvailableException`

測試開始時

public abstract void onTestStart (DeviceMetricData testData)

測試用例啟動時的回調。

參數
`testData`	`DeviceMetricData` ：儲存測試用例資料的`DeviceMetricData` 。

投擲
`DeviceNotAvailableException`