AtraceCollector

public class AtraceCollector
extends BaseDeviceMetricCollector

java.lang.Object
   ↳ com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
     ↳ com.android.tradefed.device.metric.AtraceCollector


IMetricCollector:在測試期間執行追蹤,並收集結果和記錄到呼叫中。

摘要

公用建構函式

AtraceCollector()

公用方法

void onTestEnd(DeviceMetricData testData, Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentTestCaseMetrics, TestDescription test)

測試案例結束時的回呼。

void onTestStart(DeviceMetricData testData)

測試案例啟動時的回呼。

受保護的方法

String fullLogPath()
LogDataType getLogType()
void startTracing(ITestDevice device)
void stopTracing(ITestDevice device)

公用建構函式

AtraceCollector

public AtraceCollector ()

公用方法

onTestEnd

public void onTestEnd (DeviceMetricData testData, 
                Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentTestCaseMetrics, 
                TestDescription test)

測試案例結束時的回呼。這時應進行清理。

參數
testData DeviceMetricData:保存測試案例資料的 DeviceMetricData。與 onTestStart(DeviceMetricData) 期間的物件相同。

currentTestCaseMetrics Map:傳遞至 testEnded(TestDescription,Map) 的指標目前對應。

test TestDescription:進行中測試案例的 TestDescription

擲回
DeviceNotAvailableException

onTestStart

public void onTestStart (DeviceMetricData testData)

測試案例啟動時的回呼。

參數
testData DeviceMetricData:保存測試案例資料的 DeviceMetricData

擲回
DeviceNotAvailableException

受保護的方法

fullLogPath

protected String fullLogPath ()

傳回
String

getLogType

protected LogDataType getLogType ()

傳回
LogDataType

startTracing

protected void startTracing (ITestDevice device)

參數
device ITestDevice

擲回
DeviceNotAvailableException

stopTracing

protected void stopTracing (ITestDevice device)

參數
device ITestDevice

擲回
DeviceNotAvailableException