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指標收集器

public interface IMetricCollector
implements ILogSaverListener , IDisableable

com.android.tradefed.device.metric.IMetricCollector


當報告測試結果以收集匹配指標時,此接口將作為裝飾器添加。

該接口不能用作甚至它擴展ITestInvocationListener 。配置檢查將拒絕它。它必須用作“metrics_collector”。

收集器不應保持內部狀態,因為它們可能會在多個地方重複使用。如果確實必須使用內部狀態,則應在init(com.android.tradefed.invoker.IInvocationContext, com.android.tradefed.result.ITestInvocationListener)上清除它。

概括

公共方法

default boolean captureModuleLevel ()

收集器是否適用於模塊級捕獲,應該是init。

abstract getBuildInfos ()

返回調用中可用的構建信息列表。

abstract getDevices ()

返回調用中可用的設備列表。

abstract ITestInvocationListener getInvocationListener ()

返回我們轉發結果的原始ITestInvocationListener

abstract ITestInvocationListener init ( IInvocationContext context, ITestInvocationListener listener)

使用當前上下文和轉發結果的位置初始化收集器。

abstract void onTestAssumptionFailure ( DeviceMetricData testData, TestDescription test)

當測試用例因假設失敗而失敗時回調。

abstract void onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics, TestDescription test) onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics, TestDescription test)

測試用例結束時的回調。

abstract void onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics) onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics)

測試用例結束時的回調。

abstract void onTestFail ( DeviceMetricData testData, TestDescription test)

測試用例失敗時回調。

default void onTestModuleEnded ()

允許捕獲模塊結束事件。

default void onTestModuleStarted ()

允許捕獲模塊啟動事件。

abstract void onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics) onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)

測試運行結束時回調。

abstract void onTestRunStart ( DeviceMetricData runData)

測試運行開始時的回調。

default void onTestRunStart ( DeviceMetricData runData, int testCount)

測試運行開始時的回調。

abstract void onTestStart ( DeviceMetricData testData)

測試用例啟動時的回調。

公共方法

捕獲模塊級別

public boolean captureModuleLevel ()

收集器是否適用於模塊級捕獲,應該是init。

退貨
boolean

獲取構建信息

public abstract  getBuildInfos ()

返回調用中可用的構建信息列表。

退貨

獲取設備

public abstract  getDevices ()

返回調用中可用的設備列表。

退貨

getInvocationListener

public abstract ITestInvocationListener getInvocationListener ()

返回我們轉發結果的原始ITestInvocationListener

退貨
ITestInvocationListener

在裡面

public abstract ITestInvocationListener init (IInvocationContext context, 
                ITestInvocationListener listener)

使用當前上下文和轉發結果的位置初始化收集器。每個實例只會調用一次,收集器應該更新其內部上下文和偵聽器。 Init 永遠不會在之前的測試運行期間被調用。

除非您知道自己在做什麼,否則不要覆蓋。

參數
context IInvocationContext :正在進行的調用的IInvocationContext

listener ITestInvocationListener :放置結果的ITestInvocationListener

退貨
ITestInvocationListener新的聽眾包裝了原來的聽眾。

投擲
DeviceNotAvailableException

測試假設失敗

public abstract void onTestAssumptionFailure (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

當測試用例因假設失敗而失敗時回調。

參數
testData DeviceMetricData :保存測試用例數據的DeviceMetricData

test TestDescription :正在進行的測試用例的TestDescription

投擲
DeviceNotAvailableException

在測試結束時

public abstract void onTestEnd (DeviceMetricData testData, 
                 currentTestCaseMetrics, 
                TestDescription test)

測試用例結束時的回調。這應該是清理的時間。

參數
testData DeviceMetricData :保存測試用例數據的DeviceMetricData 。將與onTestStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)期間的對象相同。

currentTestCaseMetrics :傳遞給ERROR(/#testEnded(com.android.tradefed.result.TestDescription,Map))的當前指標圖。

test TestDescription :正在進行的測試用例的TestDescription

投擲
DeviceNotAvailableException

在測試結束時

public abstract void onTestEnd (DeviceMetricData testData, 
                 currentTestCaseMetrics)

測試用例結束時的回調。這應該是清理的時間。

參數
testData DeviceMetricData :保存測試用例數據的DeviceMetricData 。將與onTestStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)期間的對象相同。

currentTestCaseMetrics :傳遞給ERROR(/#testEnded(com.android.tradefed.result.TestDescription,Map))的當前指標圖。

投擲
DeviceNotAvailableException

測試失敗

public abstract void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

測試用例失敗時回調。

參數
testData DeviceMetricData :保存測試用例數據的DeviceMetricData

test TestDescription :正在進行的測試用例的TestDescription

投擲
DeviceNotAvailableException

onTestModule結束

public void onTestModuleEnded ()

允許捕獲模塊結束事件。

投擲
DeviceNotAvailableException

onTestModuleStarted

public void onTestModuleStarted ()

允許捕獲模塊啟動事件。

投擲
DeviceNotAvailableException

onTestRun結束

public abstract void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData, 
                 currentRunMetrics)

測試運行結束時回調。這應該是清理的時間。

參數
runData DeviceMetricData :保存運行數據的DeviceMetricData 。將與onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)期間的對象相同。

currentRunMetrics :傳遞給ERROR(/#testRunEnded(long,Map))的當前指標圖。

投擲
DeviceNotAvailableException

onTestRunStart

public abstract void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

測試運行開始時的回調。

參數
runData DeviceMetricData :保存運行數據的DeviceMetricData

投擲
DeviceNotAvailableException

onTestRunStart

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData, 
                int testCount)

測試運行開始時的回調。

參數
runData DeviceMetricData :保存運行數據的DeviceMetricData

testCount int :本次測試運行中的測試用例數。

投擲
DeviceNotAvailableException

onTestStart

public abstract void onTestStart (DeviceMetricData testData)

測試用例啟動時的回調。

參數
testData DeviceMetricData :保存測試用例數據的DeviceMetricData

投擲
DeviceNotAvailableException