LogcatOnFailure 收集器

public class LogcatOnFailureCollector
extends BaseDeviceMetricCollector

java.lang.Object
↳ com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
↳ com.android.tradefed.device.metric.LogcatOnFailureCollector

當測試用例失敗時將捕獲並記錄 logcat 的收集器。

概括

公共構造函數

LogcatOnFailureCollector ()

公共方法

void onTestFail ( DeviceMetricData testData, TestDescription test)

測試用例失敗時回調。

void onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics) onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)

測試運行結束時回調。

void onTestRunFailed ( DeviceMetricData testData, FailureDescription failure)

testRunFailed 事件的回調

void onTestRunStart ( DeviceMetricData runData)

測試運行開始時的回調。

void onTestStart ( DeviceMetricData testData)

測試用例啟動時的回調。

受保護的方法

void collectAndLog (String testName, int size)

公共構造函數

LogcatOnFailure 收集器

public LogcatOnFailureCollector ()

公共方法

測試失敗

public void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

測試用例失敗時回調。

參數
testData DeviceMetricData ：保存測試用例數據的DeviceMetricData 。

test TestDescription ：正在進行的測試用例的TestDescription 。

投擲
DeviceNotAvailableException

onTestRun結束

public void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData, 
                 currentRunMetrics)

測試運行結束時回調。這應該是清理的時間。

參數
runData DeviceMetricData ：保存運行數據的DeviceMetricData 。將與onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)期間的對象相同。

currentRunMetrics ：傳遞給ERROR(/#testRunEnded(long,Map))的當前指標圖。

onTestRun失敗

public void onTestRunFailed (DeviceMetricData testData, 
                FailureDescription failure)

testRunFailed 事件的回調

投擲
DeviceNotAvailableException

onTestRunStart

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

測試運行開始時的回調。

參數
runData DeviceMetricData ：保存運行數據的DeviceMetricData 。

onTestStart

public void onTestStart (DeviceMetricData testData)

測試用例啟動時的回調。

參數
testData DeviceMetricData ：保存測試用例數據的DeviceMetricData 。

受保護的方法

收集並記錄

protected void collectAndLog (String testName, 
                int size)

參數
testName String

size int

投擲
DeviceNotAvailableException