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模塊LogcatCollector

public class ModuleLogcatCollector
extends LogcatOnFailureCollector

java.lang.Object
↳	com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
	↳	com.android.tradefed.device.metric.LogcatOnFailureCollector
		↳	com.android.tradefed.device.metric.ModuleLogcatCollector

logcat 收集器的版本，但用於模塊。

概括

公共構造函數
`ModuleLogcatCollector ()`

公共方法
`boolean`	`captureModuleLevel ()`
`void`	`onTestFail ( DeviceMetricData testData, TestDescription test)` 測試用例失敗時回調。
`void`	`onTestModuleEnded ()` 允許捕獲模塊結束事件。
`void`	`onTestModuleStarted ()` 允許捕獲模塊啟動事件。
`void`	`onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)` `onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)` 測試運行結束時回調。
`void`	`onTestRunFailed ( DeviceMetricData testData, FailureDescription failure)` testRunFailed 事件的回調
`void`	`onTestRunStart ( DeviceMetricData runData)` 測試運行開始時的回調。

public ModuleLogcatCollector ()

public boolean captureModuleLevel ()

退貨
`boolean`

public void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

測試用例失敗時回調。

參數
`testData`	`DeviceMetricData` ：保存測試用例數據的`DeviceMetricData` 。
`test`	`TestDescription` ：正在進行的測試用例的`TestDescription` 。

投擲
`DeviceNotAvailableException`

public void onTestModuleEnded ()

允許捕獲模塊結束事件。

投擲
`DeviceNotAvailableException`

public void onTestModuleStarted ()

允許捕獲模塊啟動事件。

投擲
`DeviceNotAvailableException`

public void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData, 
                 currentRunMetrics)

測試運行結束時回調。這應該是清理的時間。

參數
`runData`	`DeviceMetricData` ：保存運行數據的`DeviceMetricData` 。將與`onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)`期間的對象相同。
`currentRunMetrics`	：傳遞給`ERROR(/#testRunEnded(long,Map))`的當前指標圖。

public void onTestRunFailed (DeviceMetricData testData, 
                FailureDescription failure)

testRunFailed 事件的回調

投擲
`DeviceNotAvailableException`

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

測試運行開始時的回調。

參數
`runData`	`DeviceMetricData` ：保存運行數據的`DeviceMetricData` 。