模組LogcatCollector

public class ModuleLogcatCollector
extends LogcatOnFailureCollector

java.lang.Object
↳ com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
↳ com.android.tradefed.device.metric.LogcatOnFailureCollector
↳ com.android.tradefed.device.metric.ModuleLogcatCollector

logcat 收集器的版本，但用於模組。

概括

公共構造函數

ModuleLogcatCollector ()

公共方法

boolean captureModuleLevel ()
void onTestFail ( DeviceMetricData testData, TestDescription test)

測試用例失敗時的回調。

void onTestModuleEnded ()

允許捕獲模組結束事件。

void onTestModuleStarted ()

允許捕獲模組啟動事件。

void onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics) onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)

測試運行結束時的回調。

void onTestRunFailed ( DeviceMetricData testData, FailureDescription failure)

testRunFailed 事件的回調

void onTestRunStart ( DeviceMetricData runData)

測試運行開始時的回調。

公共構造函數

模組LogcatCollector

public ModuleLogcatCollector ()

公共方法

捕獲模組級別

public boolean captureModuleLevel ()

退貨
boolean

測試失敗時

public void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

測試用例失敗時的回調。

參數
testData DeviceMetricData ：儲存測試用例資料的DeviceMetricData 。

test TestDescription ：正在進行的測試案例的TestDescription 。

投擲
DeviceNotAvailableException

測試模組結束時

public void onTestModuleEnded ()

允許捕獲模組結束事件。

投擲
DeviceNotAvailableException

測試模組啟動

public void onTestModuleStarted ()

允許捕獲模組啟動事件。

投擲
DeviceNotAvailableException

測試運行結束時

public void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData, 
                 currentRunMetrics)

測試運行結束時的回調。這應該是清理的時間。

參數
runData DeviceMetricData ：儲存運行資料的DeviceMetricData 。將與onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)期間的物件相同。

currentRunMetrics ：傳遞給ERROR(/#testRunEnded(long,Map))目前指標映射。

測試運行失敗

public void onTestRunFailed (DeviceMetricData testData, 
                FailureDescription failure)

testRunFailed 事件的回調

投擲
DeviceNotAvailableException

測試運行開始時

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

測試運行開始時的回調。

參數
runData DeviceMetricData ：儲存運行資料的DeviceMetricData 。