LogcatOnFailureCollector

public class LogcatOnFailureCollector
extends BaseDeviceMetricCollector

java.lang.Object
   ↳ com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
     ↳ com.android.tradefed.device.metric.LogcatOnFailureCollector

收集器，可在測試案例失敗時擷取並記錄 Logcat。

摘要

公用建構函式

LogcatOnFailureCollector()

公用方法

void onTestFail(DeviceMetricData testData, TestDescription test)

測試案例失敗時的回呼。

void onTestRunEnd(DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)

測試結束時的回呼。

void onTestRunFailed(DeviceMetricData testData, FailureDescription failure)

用於 testRunFailed 事件的回呼

void onTestRunStart(DeviceMetricData runData)

開始執行測試時的回呼。

void onTestStart(DeviceMetricData testData)

測試案例啟動時的回呼。

受保護的方法

void collectAndLog(String testName, int size)

公用建構函式

LogcatOnFailureCollector

public LogcatOnFailureCollector ()

公用方法

onTestFail

public void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

測試案例失敗時的回呼。

參數
testData DeviceMetricData：保留測試案例資料的 DeviceMetricData。
test TestDescription：進行中的測試案例 TestDescription。
擲回
DeviceNotAvailableException

onTestRunEnd

public void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData, 
                 currentRunMetrics)

測試結束時的回呼。這時應該要清理了。

參數
runData DeviceMetricData：儲存執行作業資料的 DeviceMetricData。會與 onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData) 期間相同的物件。
currentRunMetrics ：傳遞至 ERROR(/#testRunEnded(long,Map)) 的目前指標對應項目。

onTestRunFailed

public void onTestRunFailed (DeviceMetricData testData, 
                FailureDescription failure)

testRunFailed 事件的回呼

擲回
DeviceNotAvailableException

onTestRunStart

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

開始測試時的回呼。

參數
runData DeviceMetricData：儲存執行作業資料的 DeviceMetricData。

onTestStart

public void onTestStart (DeviceMetricData testData)

測試案例啟動時的回呼。

參數
testData DeviceMetricData：保留測試案例資料的 DeviceMetricData。

受保護的方法

collectAndLog

protected void collectAndLog (String testName, 
                int size)

參數
testName String

size int

擲回
DeviceNotAvailableException