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度量收集器

public interface IMetricCollector
implements ILogSaverListener, IDisableable

com.android.tradefed.device.metric.IMetricCollector

已知的間接子類

基礎設備指標收集器	`IMetricCollector`的基本實現，允許在`onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)`和`ERROR(/#onTestRunEnd(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData,Map))`上啟動和停止收集。
BugreportzOnFailureCollector	當測試用例失敗時收集錯誤報告。
ClangCodeCoverageCollector	`BaseDeviceMetricCollector`將從裝置中擷取 Clang 覆蓋率測量結果並將其記錄為測試工件。
計數測試用例收集器	計算並報告給定`IRemoteTest`測試案例數量。
調試主機登入失敗收集器	當測試案例發生故障時，收集器將收集並記錄主機端日誌。
FilePullerDeviceMetricCollector	一個`BaseDeviceMetricCollector` ，用於偵聽來自裝置的指標鍵並將它們作為檔案從裝置中提取。
文件拉取日誌收集器	設備端上報的文件記錄器。
GcovCodeCoverageCollector	一個`BaseDeviceMetricCollector` ，將從裝置中提取 gcov 覆蓋率測量結果並將其記錄為測試工件。
Java程式碼覆蓋率收集器	`BaseDeviceMetricCollector`將從裝置中擷取 Java 覆蓋率測量結果並將其記錄為測試工件。
LogcatOnFailureCollector 日誌收集器	當測試用例失敗時，收集器將捕獲並記錄 logcat。
故障收集器螢幕截圖	當測試用例失敗時，收集器將捕獲並記錄螢幕截圖。

在報告測試結果時，該介面將作為裝飾器添加，以收集匹配的指標。

此介面不能用作甚至它擴充了ITestInvocationListener 。配置檢查將拒絕它。它必須用作“metrics_collector”。

收集器不應保留內部狀態，因為它們可能會在多個地方重複使用。如果確實必須使用內部狀態，則應在init(com.android.tradefed.invoker.IInvocationContext, com.android.tradefed.result.ITestInvocationListener)上清理它。

概括

公共方法
`abstract`	`getBuildInfos ()` 傳回呼叫中可用的建置資訊列表。
`abstract`	`getDevices ()` 傳回呼叫中可用的設備清單。
`abstract ITestInvocationListener`	`getInvocationListener ()` 傳回我們在其中轉發結果的原始`ITestInvocationListener` 。
`abstract ITestInvocationListener`	`init (IInvocationContext context, ITestInvocationListener listener)` 使用當前上下文以及將結果轉送到的位置來初始化收集器。
`abstract void`	`onTestAssumptionFailure ( DeviceMetricData testData, TestDescription test)` 當測試用例因假設失敗而失敗時的回調。
`abstract void`	`onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics)` `onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics)` 測試用例結束時的回調。
`abstract void`	`onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics, TestDescription test)` `onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics, TestDescription test)` 測試用例結束時的回調。
`abstract void`	`onTestFail ( DeviceMetricData testData, TestDescription test)` 測試用例失敗時的回調。
`abstract void`	`onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)` `onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)` 測試運行結束時的回調。
`abstract void`	`onTestRunStart ( DeviceMetricData runData)` 測試運行開始時的回調。
`abstract void`	`onTestStart ( DeviceMetricData testData)` 測試用例啟動時的回調。

public abstract  getBuildInfos ()

傳回呼叫中可用的建置資訊列表。

退貨

public abstract  getDevices ()

傳回呼叫中可用的設備清單。

退貨

public abstract ITestInvocationListener getInvocationListener ()

傳回我們在其中轉發結果的原始ITestInvocationListener 。

退貨
`ITestInvocationListener`

public abstract ITestInvocationListener init (IInvocationContext context, 
                ITestInvocationListener listener)

使用當前上下文以及將結果轉送到的位置來初始化收集器。每個實例只會呼叫一次，並且收集器預計會更新其內部上下文和偵聽器。以前在測試運行期間永遠不會呼叫 Init。

除非您知道自己在做什麼，否則請勿覆蓋。

參數
`context`	`IInvocationContext` ：正在進行的呼叫的`IInvocationContext` 。
`listener`	`ITestInvocationListener` ： `ITestInvocationListener`放置結果的位置。

退貨
`ITestInvocationListener`	新的監聽器包裹了原來的監聽器。

public abstract void onTestAssumptionFailure (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

當測試用例因假設失敗而失敗時的回調。

參數
`testData`	`DeviceMetricData` ：儲存測試用例資料的`DeviceMetricData` 。
`test`	`TestDescription` ：正在進行的測試案例的`TestDescription` 。

public abstract void onTestEnd (DeviceMetricData testData, 
                 currentTestCaseMetrics)

測試用例結束時的回調。這應該是清理的時間。

參數
`testData`	`DeviceMetricData` ：儲存測試用例資料的`DeviceMetricData` 。將與`onTestStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)`期間的物件相同。
`currentTestCaseMetrics`	：傳遞給`ITestLifeCycleReceiver.testEnded(com.android.tradefed.result.TestDescription, Map)`的目前指標對應。

public abstract void onTestEnd (DeviceMetricData testData, 
                 currentTestCaseMetrics, 
                TestDescription test)

測試用例結束時的回調。這應該是清理的時間。

參數
`testData`	`DeviceMetricData` ：儲存測試用例資料的`DeviceMetricData` 。將與`onTestStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)`期間的物件相同。
`currentTestCaseMetrics`	：傳遞給`ITestLifeCycleReceiver.testEnded(com.android.tradefed.result.TestDescription, Map)`的目前指標對應。
`test`	`TestDescription` ：正在進行的測試案例的`TestDescription` 。

public abstract void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

測試用例失敗時的回調。

參數
`testData`	`DeviceMetricData` ：儲存測試用例資料的`DeviceMetricData` 。
`test`	`TestDescription` ：正在進行的測試案例的`TestDescription` 。

public abstract void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData, 
                 currentRunMetrics)

測試運行結束時的回調。這應該是清理的時間。

參數
`runData`	`DeviceMetricData` ：儲存運行資料的`DeviceMetricData` 。將與`onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)`期間的物件相同。
`currentRunMetrics`	：傳遞給`ITestLifeCycleReceiver.testRunEnded(long, Map)`的目前指標映射。

public abstract void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

測試運行開始時的回調。

參數
`runData`	`DeviceMetricData` ：儲存運行資料的`DeviceMetricData` 。

public abstract void onTestStart (DeviceMetricData testData)

測試用例啟動時的回調。

參數
`testData`	`DeviceMetricData` ：儲存測試用例資料的`DeviceMetricData` 。