指标收集器

public interface IMetricCollector
implements ILogSaverListener , IDisableable

com.android.tradefed.device.metric.IMetricCollector


当报告测试结果以收集匹配指标时,此接口将作为装饰器添加。

该接口不能用作甚至它扩展了ITestInvocationListener 。配置检查将拒绝它。它必须用作“metrics_collector”。

收集器不应保持内部状态,因为它们可能会在多个地方重复使用。如果确实必须使用内部状态,则应在init(com.android.tradefed.invoker.IInvocationContext, com.android.tradefed.result.ITestInvocationListener)上清除它。

概括

公共方法

default boolean captureModuleLevel ()

收集器是否适用于模块级捕获,应该是init。

abstract getBuildInfos ()

返回调用中可用的构建信息列表。

abstract getDevices ()

返回调用中可用的设备列表。

abstract ITestInvocationListener getInvocationListener ()

返回我们转发结果的原始ITestInvocationListener

abstract ITestInvocationListener init ( IInvocationContext context, ITestInvocationListener listener)

使用当前上下文和转发结果的位置初始化收集器。

abstract void onTestAssumptionFailure ( DeviceMetricData testData, TestDescription test)

当测试用例因假设失败而失败时回调。

abstract void onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics, TestDescription test) onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics, TestDescription test)

测试用例结束时的回调。

abstract void onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics) onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics)

测试用例结束时的回调。

abstract void onTestFail ( DeviceMetricData testData, TestDescription test)

测试用例失败时回调。

default void onTestModuleEnded ()

允许捕获模块结束事件。

default void onTestModuleStarted ()

允许捕获模块启动事件。

abstract void onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics) onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)

测试运行结束时回调。

abstract void onTestRunStart ( DeviceMetricData runData)

测试运行开始时的回调。

default void onTestRunStart ( DeviceMetricData runData, int testCount)

测试运行开始时的回调。

abstract void onTestStart ( DeviceMetricData testData)

测试用例启动时的回调。

公共方法

捕获模块级别

public boolean captureModuleLevel ()

收集器是否适用于模块级捕获,应该是init。

退货
boolean

获取构建信息

public abstract  getBuildInfos ()

返回调用中可用的构建信息列表。

退货

获取设备

public abstract  getDevices ()

返回调用中可用的设备列表。

退货

getInvocationListener

public abstract ITestInvocationListener getInvocationListener ()

返回我们转发结果的原始ITestInvocationListener

退货
ITestInvocationListener

在里面

public abstract ITestInvocationListener init (IInvocationContext context, 
                ITestInvocationListener listener)

使用当前上下文和转发结果的位置初始化收集器。每个实例只会调用一次,收集器应该更新其内部上下文和侦听器。 Init 永远不会在之前的测试运行期间被调用。

除非您知道自己在做什么,否则不要覆盖。

参数
context IInvocationContext :正在进行的调用的IInvocationContext

listener ITestInvocationListener :放置结果的ITestInvocationListener

退货
ITestInvocationListener新的听众包装了原来的听众。

投掷
DeviceNotAvailableException

测试假设失败

public abstract void onTestAssumptionFailure (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

当测试用例因假设失败而失败时回调。

参数
testData DeviceMetricData :保存测试用例数据的DeviceMetricData

test TestDescription :正在进行的测试用例的TestDescription

投掷
DeviceNotAvailableException

在测试结束时

public abstract void onTestEnd (DeviceMetricData testData, 
                 currentTestCaseMetrics, 
                TestDescription test)

测试用例结束时的回调。这应该是清理的时间。

参数
testData DeviceMetricData :保存测试用例数据的DeviceMetricData 。将与onTestStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)期间的对象相同。

currentTestCaseMetrics :传递给ERROR(/#testEnded(com.android.tradefed.result.TestDescription,Map))的当前指标图。

test TestDescription :正在进行的测试用例的TestDescription

投掷
DeviceNotAvailableException

在测试结束时

public abstract void onTestEnd (DeviceMetricData testData, 
                 currentTestCaseMetrics)

测试用例结束时的回调。这应该是清理的时间。

参数
testData DeviceMetricData :保存测试用例数据的DeviceMetricData 。将与onTestStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)期间的对象相同。

currentTestCaseMetrics :传递给ERROR(/#testEnded(com.android.tradefed.result.TestDescription,Map))的当前指标图。

投掷
DeviceNotAvailableException

测试失败

public abstract void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

测试用例失败时回调。

参数
testData DeviceMetricData :保存测试用例数据的DeviceMetricData

test TestDescription :正在进行的测试用例的TestDescription

投掷
DeviceNotAvailableException

onTestModule结束

public void onTestModuleEnded ()

允许捕获模块结束事件。

投掷
com.android.tradefed.device.DeviceNotAvailableException
DeviceNotAvailableException

onTestModuleStarted

public void onTestModuleStarted ()

允许捕获模块启动事件。

投掷
com.android.tradefed.device.DeviceNotAvailableException
DeviceNotAvailableException

onTestRun结束

public abstract void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData, 
                 currentRunMetrics)

测试运行结束时回调。这应该是清理的时间。

参数
runData DeviceMetricData :保存运行数据的DeviceMetricData 。将与onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)期间的对象相同。

currentRunMetrics :传递给ERROR(/#testRunEnded(long,Map))的当前指标图。

投掷
DeviceNotAvailableException

onTestRunStart

public abstract void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

测试运行开始时的回调。

参数
runData DeviceMetricData :保存运行数据的DeviceMetricData

投掷
DeviceNotAvailableException

onTestRunStart

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData, 
                int testCount)

测试运行开始时的回调。

参数
runData DeviceMetricData :保存运行数据的DeviceMetricData

testCount int :本次测试运行中的测试用例数。

投掷
DeviceNotAvailableException

onTestStart

public abstract void onTestStart (DeviceMetricData testData)

测试用例启动时的回调。

参数
testData DeviceMetricData :保存测试用例数据的DeviceMetricData

投掷
DeviceNotAvailableException