指标收集器
public interface IMetricCollector
implements ILogSaverListener , IDisableable
com.android.tradefed.device.metric.IMetricCollector |
当报告测试结果以收集匹配指标时,此接口将作为装饰器添加。
该接口不能用作 收集器不应保持内部状态,因为它们可能会在多个地方重复使用。如果确实必须使用内部状态,则应在 收集器是否适用于模块级捕获,应该是init。 返回调用中可用的构建信息列表。 返回调用中可用的设备列表。 返回我们转发结果的原始 使用当前上下文和转发结果的位置初始化收集器。 当测试用例因假设失败而失败时回调。 测试用例结束时的回调。 测试用例结束时的回调。 测试用例失败时回调。 允许捕获模块结束事件。 允许捕获模块启动事件。 测试运行结束时回调。 测试运行开始时的回调。 测试运行开始时的回调。 测试用例启动时的回调。 收集器是否适用于模块级捕获,应该是init。 返回调用中可用的构建信息列表。 返回调用中可用的设备列表。 返回我们转发结果的原始 使用当前上下文和转发结果的位置初始化收集器。每个实例只会调用一次,收集器应该更新其内部上下文和侦听器。 Init 永远不会在之前的测试运行期间被调用。 除非您知道自己在做什么,否则不要覆盖。 当测试用例因假设失败而失败时回调。 测试用例结束时的回调。这应该是清理的时间。 测试用例结束时的回调。这应该是清理的时间。 测试用例失败时回调。 允许捕获模块结束事件。 允许捕获模块启动事件。 测试运行结束时回调。这应该是清理的时间。 测试运行开始时的回调。 测试运行开始时的回调。 测试用例启动时的回调。ITestInvocationListener
。配置检查将拒绝它。它必须用作“metrics_collector”。init(com.android.tradefed.invoker.IInvocationContext, com.android.tradefed.result.ITestInvocationListener)
上清除它。概括
公共方法
default boolean
captureModuleLevel ()
abstract
getBuildInfos ()
abstract
getDevices ()
abstract ITestInvocationListener
getInvocationListener ()
ITestInvocationListener
。 abstract ITestInvocationListener
init ( IInvocationContext context, ITestInvocationListener listener)
abstract void
onTestAssumptionFailure ( DeviceMetricData testData, TestDescription test)
abstract void
onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics, TestDescription test)
onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics, TestDescription test)
abstract void
onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics)
onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics)
abstract void
onTestFail ( DeviceMetricData testData, TestDescription test)
default void
onTestModuleEnded ()
default void
onTestModuleStarted ()
abstract void
onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)
onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)
abstract void
onTestRunStart ( DeviceMetricData runData)
default void
onTestRunStart ( DeviceMetricData runData, int testCount)
abstract void
onTestStart ( DeviceMetricData testData)
公共方法
捕获模块级别
public boolean captureModuleLevel ()
退货 boolean
获取构建信息
public abstract
退货 获取设备
public abstract
退货 getInvocationListener
public abstract ITestInvocationListener getInvocationListener ()
ITestInvocationListener
。退货 ITestInvocationListener
在里面
public abstract ITestInvocationListener init (IInvocationContext context,
ITestInvocationListener listener)
参数 context
IInvocationContext
:正在进行的调用的IInvocationContext
。 listener
ITestInvocationListener
:放置结果的ITestInvocationListener
。退货 ITestInvocationListener
新的听众包装了原来的听众。 投掷 DeviceNotAvailableException
测试假设失败
public abstract void onTestAssumptionFailure (DeviceMetricData testData,
TestDescription test)
参数 testData
DeviceMetricData
:保存测试用例数据的DeviceMetricData
。 test
TestDescription
:正在进行的测试用例的TestDescription
。投掷 DeviceNotAvailableException
在测试结束时
public abstract void onTestEnd (DeviceMetricData testData,
参数 testData
DeviceMetricData
:保存测试用例数据的DeviceMetricData
。将与onTestStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)
期间的对象相同。 currentTestCaseMetrics
ERROR(/#testEnded(com.android.tradefed.result.TestDescription,Map))
的当前指标图。 test
TestDescription
:正在进行的测试用例的TestDescription
。投掷 DeviceNotAvailableException
在测试结束时
public abstract void onTestEnd (DeviceMetricData testData,
参数 testData
DeviceMetricData
:保存测试用例数据的DeviceMetricData
。将与onTestStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)
期间的对象相同。 currentTestCaseMetrics
ERROR(/#testEnded(com.android.tradefed.result.TestDescription,Map))
的当前指标图。投掷 DeviceNotAvailableException
测试失败
public abstract void onTestFail (DeviceMetricData testData,
TestDescription test)
参数 testData
DeviceMetricData
:保存测试用例数据的DeviceMetricData
。 test
TestDescription
:正在进行的测试用例的TestDescription
。投掷 DeviceNotAvailableException
onTestModule结束
public void onTestModuleEnded ()
投掷 com.android.tradefed.device.DeviceNotAvailableException DeviceNotAvailableException
onTestModuleStarted
public void onTestModuleStarted ()
投掷 com.android.tradefed.device.DeviceNotAvailableException DeviceNotAvailableException
onTestRun结束
public abstract void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData,
参数 runData
DeviceMetricData
:保存运行数据的DeviceMetricData
。将与onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)
期间的对象相同。 currentRunMetrics
ERROR(/#testRunEnded(long,Map))
的当前指标图。投掷 DeviceNotAvailableException
onTestRunStart
public abstract void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)
参数 runData
DeviceMetricData
:保存运行数据的DeviceMetricData
。投掷 DeviceNotAvailableException
onTestRunStart
public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData,
int testCount)
参数 runData
DeviceMetricData
:保存运行数据的DeviceMetricData
。 testCount
int
:本次测试运行中的测试用例数。投掷 DeviceNotAvailableException
onTestStart
public abstract void onTestStart (DeviceMetricData testData)
参数 testData
DeviceMetricData
:保存测试用例数据的DeviceMetricData
。投掷 DeviceNotAvailableException