自 2025 年 3 月 27 日起，我们建议您使用 android-latest-release 而非 aosp-main 构建 AOSP 并为其做出贡献。如需了解详情，请参阅 AOSP 的变更。

此页面由 Cloud Translation API 翻译。

IMetricCollector

public interface IMetricCollector
implements IDisableable, ILogSaverListener

com.android.tradefed.device.metric.IMetricCollector

已知的间接子类

AtraceCollector、AtraceRunMetricCollector、BaseDeviceMetricCollector、BluetoothConnectionLatencyCollector、BluetoothConnectionStateCollector、BluetoothHciSnoopLogCollector、BugreportzOnFailureCollector、BugreportzOnTestCaseFailureCollector、ClangCodeCoverageCollector、CodeCoverageCollector、CountTestCasesCollector、DebugHostLogOnFailureCollector、DeviceTraceCollector、FilePullerDeviceMetricCollector、FilePullerLogCollector 和其他 13 个。

AtraceCollector	在测试期间运行 atrace 并收集结果并将其记录到调用中的 `IMetricCollector`。
AtraceRunMetricCollector	从测试设备收集给定目录下所有测试目录中的轨迹，记录测试目录，对测试目录下的轨迹文件进行后处理，并汇总指标。
BaseDeviceMetricCollector	`IMetricCollector` 的基础实现，允许在 `onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)` 和 `ERROR(/#onTestRunEnd(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData,Map))` 上启动和停止收集。
BluetoothConnectionLatencyCollector	收集器会将预定义的 StatsD 时长指标配置推送到设备，并收集每个配置文件的蓝牙连接时长。
BluetoothConnectionStateCollector	此收集器将收集 BluetoothConnectionStateChanged 指标，并记录每个配置文件的连接状态编号。
BluetoothHciSnoopLogCollector	收集器，用于在 DUT 上启用蓝牙 HCI 信息收集日志记录，并收集每次测试的日志。
BugreportzOnFailureCollector	在测试用例失败时收集 bugreportz。
BugreportzOnTestCaseFailureCollector	在运行期间测试用例失败时收集 bugreportz。
ClangCodeCoverageCollector	一个 `BaseDeviceMetricCollector`，用于从设备中提取 Clang 代码覆盖率测量结果，并将其记录为测试工件。
CodeCoverageCollector	一个 `BaseDeviceMetricCollector`，用于从设备中提取 Java 和原生代码覆盖率测量结果，并将其记录为测试工件。
CountTestCasesCollector	统计并报告给定 `IRemoteTest` 的测试用例数量。
DebugHostLogOnFailureCollector	在发生测试用例失败时收集和记录主机端日志的收集器。
DeviceTraceCollector	在测试运行开始时启动 Perfetto 轨迹，并在结束时记录轨迹文件的收集器。
FilePullerDeviceMetricCollector	一个 `BaseDeviceMetricCollector`，用于监听来自设备的指标键，并将其作为文件从设备中拉取。
FilePullerLogCollector	设备端报告的文件的记录器。
GcovCodeCoverageCollector	一个 `BaseDeviceMetricCollector`，用于从设备中提取 gcov 覆盖率测量结果，并将其记录为测试工件。
GcovKernelCodeCoverageCollector	一个 `BaseDeviceMetricCollector`，用于从 debugfs 和设备中提取 gcov 内核覆盖率测量结果，最后将其作为测试工件记录下来。
HostStatsdMetricCollector	使用 statsd 实用程序命令从主机端收集 statsd 指标的 `IMetricCollector`。
JavaCodeCoverageCollector	一个 `BaseDeviceMetricCollector`，用于从设备中提取 Java 覆盖率测量结果并将其记录为测试工件。
LogcatOnFailureCollector	在测试用例失败时捕获并记录 logcat 的收集器。
LogcatTimingMetricCollector	指标收集器，用于在一次或多次重复测试期间从 Logcat 收集时间信息（例如用户切换时间），方法是使用给定的正则表达式模式解析 Logcat 行中的事件开始和结束信号。
ModuleLogcatCollector	Logcat 收集器的版本，但适用于模块。
PerfettoPullerMetricCollector	`FilePullerDeviceMetricCollector` 的基础实现，允许从设备中提取 Perfetto 文件并从中收集指标。
RebootReasonCollector	收集测试运行期间设备重启情况的收集器，并按原因和计数报告这些情况。
RuntimeRestartCollector	收集测试运行期间运行时重启（系统服务器崩溃）时间戳的收集器（如果有）。
ScreenshotOnFailureCollector	在测试用例失败时捕获并记录屏幕截图的收集器。
ShowmapPullerMetricCollector	`FilePullerDeviceMetricCollector` 的基本实现，允许从设备中拉取 showmap 文件并从中收集指标。
TraceCmdCollector	一个 `IMetricCollector`，用于使用 trace-cmd 在测试期间收集轨迹，并将其记录到调用。

在报告测试结果时，系统会将此接口添加为装饰器，以收集匹配的指标。

此接口无法用作，即使它扩展了 ITestInvocationListener 也是如此。配置检查将拒绝该应用。它必须用作“metrics_collector”。

收集器不应保留内部状态，因为它们可能会在多个位置重复使用。如果确实必须使用内部状态，则应在 init(com.android.tradefed.invoker.IInvocationContext, com.android.tradefed.result.ITestInvocationListener) 上清理该状态。

摘要

公共方法
`default boolean`	`captureModuleLevel()` 收集器是否适用于模块级捕获，以及是否应进行初始化。
`abstract`	`getBuildInfos()` 返回调用中可用的 build 信息列表。
`abstract`	`getDevices()` 返回调用中可用的设备列表。
`abstract ITestInvocationListener`	`getInvocationListener()` 返回我们要将结果转发到的原始 `ITestInvocationListener`。
`abstract ITestInvocationListener`	`init(IInvocationContext context, ITestInvocationListener listener)` 使用当前上下文初始化收集器，以及将结果转发到的目的地。
`abstract void`	`onTestAssumptionFailure(DeviceMetricData testData, TestDescription test)` 当测试用例因假设失败而失败时，回调。
`abstract void`	`onTestEnd(DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics, TestDescription test)` 测试用例结束时的回调。
`abstract void`	`onTestEnd(DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics)` 测试用例结束时的回调。
`abstract void`	`onTestFail(DeviceMetricData testData, TestDescription test)` 测试用例失败时的回调。
`default void`	`onTestModuleEnded()` 允许捕获模块结束事件。
`default void`	`onTestModuleStarted()` 允许捕获模块启动事件。
`abstract void`	`onTestRunEnd(DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)` 测试运行结束时的回调。
`abstract void`	`onTestRunStart(DeviceMetricData runData)` 测试运行开始时的回调。
`default void`	`onTestRunStart(DeviceMetricData runData, int testCount)` 测试运行开始时的回调。
`abstract void`	`onTestStart(DeviceMetricData testData)` 测试用例启动时的回调。

公共方法

captureModuleLevel

public boolean captureModuleLevel ()

收集器是否适用于模块级捕获，以及是否应进行初始化。

返回
`boolean`

getBuildInfos

public abstract  getBuildInfos ()

返回调用中可用的 build 信息列表。

返回

getDevices

public abstract  getDevices ()

返回调用中可用的设备列表。

返回

getInvocationListener

public abstract ITestInvocationListener getInvocationListener ()

返回我们要将结果转发到的原始 ITestInvocationListener。

返回
`ITestInvocationListener`

init

public abstract ITestInvocationListener init (IInvocationContext context, 
                ITestInvocationListener listener)

使用当前上下文初始化收集器，以及将结果转发到的目的地。每个实例仅调用一次，并且收集器应更新其内部上下文和监听器。之前，测试运行期间永远不会调用 init。

除非您知道自己在做什么，否则请勿替换。

参数
`context`	`IInvocationContext`：正在进行的调用的 `IInvocationContext`。
`listener`	`ITestInvocationListener`：用于放置结果的 `ITestInvocationListener`。

返回
`ITestInvocationListener`	封装原始监听器的新监听器。

抛出
`DeviceNotAvailableException`

onTestAssumptionFailure

public abstract void onTestAssumptionFailure (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

当测试用例因假设失败而失败时，回调。

参数
`testData`	`DeviceMetricData`：用于存储测试用例数据的 `DeviceMetricData`。
`test`	`TestDescription`：正在进行的测试用例的 `TestDescription`。

抛出
`DeviceNotAvailableException`

onTestEnd

public abstract void onTestEnd (DeviceMetricData testData, 
                 currentTestCaseMetrics, 
                TestDescription test)

测试用例结束时的回调。现在应该是清理时间了。

参数
`testData`	`DeviceMetricData`：用于存储测试用例数据的 `DeviceMetricData`。将与 `onTestStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)` 期间相同的对象。
`currentTestCaseMetrics`	：传递给 `ERROR(/#testEnded(com.android.tradefed.result.TestDescription,Map))` 的指标的当前映射。
`test`	`TestDescription`：正在进行的测试用例的 `TestDescription`。

抛出
`DeviceNotAvailableException`

onTestEnd

public abstract void onTestEnd (DeviceMetricData testData, 
                 currentTestCaseMetrics)

测试用例结束时的回调。现在应该是清理时间了。

参数
`testData`	`DeviceMetricData`：用于存储测试用例数据的 `DeviceMetricData`。将与 `onTestStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)` 期间相同的对象。
`currentTestCaseMetrics`	：传递给 `ERROR(/#testEnded(com.android.tradefed.result.TestDescription,Map))` 的指标的当前映射。

抛出
`DeviceNotAvailableException`

onTestFail

public abstract void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

测试用例失败时的回调。

参数
`testData`	`DeviceMetricData`：用于存储测试用例数据的 `DeviceMetricData`。
`test`	`TestDescription`：正在进行的测试用例的 `TestDescription`。

抛出
`DeviceNotAvailableException`

onTestModuleEnded

public void onTestModuleEnded ()

允许捕获模块结束事件。

抛出
	com.android.tradefed.device.DeviceNotAvailableException
`DeviceNotAvailableException`

onTestModuleStarted

public void onTestModuleStarted ()

允许捕获模块启动事件。

抛出
	com.android.tradefed.device.DeviceNotAvailableException
`DeviceNotAvailableException`

onTestRunEnd

public abstract void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData, 
                 currentRunMetrics)

测试运行结束时的回调。现在应该是清理时间了。

参数
`runData`	`DeviceMetricData`：用于存储运行数据的 `DeviceMetricData`。将与 `onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)` 期间相同的对象。
`currentRunMetrics`	：传递给 `ERROR(/#testRunEnded(long,Map))` 的指标的当前映射。

抛出
`DeviceNotAvailableException`

onTestRunStart

public abstract void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

测试运行开始时的回调。

参数
`runData`	`DeviceMetricData`：用于存储运行数据的 `DeviceMetricData`。

抛出
`DeviceNotAvailableException`

onTestRunStart

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData, 
                int testCount)

测试运行开始时的回调。

参数
`runData`	`DeviceMetricData`：用于存储运行数据的 `DeviceMetricData`。
`testCount`	`int`：此测试运行中的测试用例数量。

抛出
`DeviceNotAvailableException`

onTestStart

public abstract void onTestStart (DeviceMetricData testData)

测试用例启动时的回调。

参数
`testData`	`DeviceMetricData`：用于存储测试用例数据的 `DeviceMetricData`。

抛出
`DeviceNotAvailableException`