IMetricCollector

public interface IMetricCollector
implements ITestInvocationListener , IDisableable

com.android.tradefed.device.metric.IMetricCollector

已知的間接子類

AtraceCollector ， AtraceRunMetricCollector ， BaseDeviceMetricCollector ， BuddyInfoMetricCollector ， BugreportzMetricCollector ， BugreportzOnFailureCollector ， DebugHostLogOnFailureCollector ， DumpHeapCollector ， FilePullerDeviceMetricCollector ， FilePullerLogCollector ， GraphicsStatsMetricCollector ， HostStatsdMetricCollector ， IncidentReportCollector ， IonHeapInfoMetricCollector ， LogcatOnFailureCollector ，另有12人。

AtraceCollector	一個`IMetricCollector` ，它在測試期間運行atrace並收集結果並將其記錄到調用中。
AtraceRunMetricCollector	從測試設備的給定目錄下的所有測試目錄中收集跟踪，記錄測試目錄，並對測試目錄下的跟踪文件進行後處理並彙總度量。
BaseDeviceMetricCollector	`IMetricCollector`基本實現，它允許在`onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)`和`ERROR(/#onTestRunEnd(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData,Map))`上啟動和停止收集。
BuddyInfoMetricCollector	`ScheduledDeviceMetricCollector`用於定期收集碎片。
BugreportzMetricCollector	`ScheduledDeviceMetricCollector`定期收集壓縮的錯誤報告。
BugreportzOnFailureCollector	測試用例失敗時收集錯誤報告。
DebugHostLogOnFailureCollector	發生測試用例失敗時，將收集並記錄主機端日誌的收集器。
DumpHeapCollector	`ScheduledDeviceMetricCollector`用於定期收集進程的內存轉儲。
FilePullerDeviceMetricCollector	一個`BaseDeviceMetricCollector` ，它偵聽來自設備的指標密鑰，並將其作為文件從設備中拉出。
FilePullerLogCollector	設備端報告的文件的記錄器。
GraphicsStatsMetricCollector	`ScheduledDeviceMetricCollector`用於定期收集圖形統計信息。
HostStatsdMetricCollector	一個`IMetricCollector` ，它使用statsd實用程序命令從主機側收集statsd度量。
IncidentReportCollector	拉並處理在設備端報告的事件報告。
IonHeapInfoMetricCollector	`ScheduledDeviceMetricCollector`用於定期收集音頻和系統內存堆。
LogcatOnFailureCollector	測試用例失敗時將捕獲並記錄日誌貓的收集器。
MemInfoMetricCollector	`ScheduledDeviceMetricCollector`用於定期收集內存轉儲。
PagetypeInfoMetricCollector	`ScheduledDeviceMetricCollector`用於定期收集免費頁數。
PerfettoPullerMetricCollector	`FilePullerDeviceMetricCollector`基本實現，它允許從設備中提取perfetto文件並從中收集指標。
ProcessMaxMemoryCollector	`ScheduledDeviceMetricCollector`用於測量指定進程的峰值內存使用情況。
重新啟動原因收集器	在測試運行期間收集設備重新啟動的收集器，並按原因和計數報告它們。
RuntimeRestartCollector	收集運行時重新啟動的時間戳（系統服務器崩潰）的收集器（如果有）。
ScheduleMultipleDeviceMetricCollector	`IMetricCollector`使定期運行多個度量收集器。
ScheduledDeviceMetricCollector	一個`IMetricCollector` ，它允許按設置的時間間隔定期運行收集任務。
ScreenshotOnFailureCollector	當測試用例失敗時，收集器將捕獲並記錄屏幕截圖。
溫度收集器	`ScheduledDeviceMetricCollector`用於測量最小和最大設備溫度。
TraceCmdCollector	一個`IMetricCollector` ，它在測試過程中使用trace-cmd收集跟踪，並將其記錄到調用中。
TraceMetricCollector	一個`ScheduledDeviceMetricCollector`用於定期收集內核調試跟踪。

報告測試結果時，此接口將被添加為裝飾器，以收集匹配的指標。

此接口不能用作即使它擴展了ITestInvocationListener 。配置檢查將拒絕它。它必須用作“ metrics_collector”。

收集器不應保持內部狀態，因為它們可能會在多個地方重複使用。如果確實必須使用內部狀態，則應在init(com.android.tradefed.invoker.IInvocationContext, com.android.tradefed.result.ITestInvocationListener)上對其進行清理。

摘要

公開方法
`abstract`	`getBuildInfos ()` 返回調用中可用的構建信息列表。
`abstract`	`getDevices ()` 返回調用中可用的設備列表。
`abstract ITestInvocationListener`	`getInvocationListener ()` 返回原始`ITestInvocationListener` ，我們在其中轉發結果。
`abstract ITestInvocationListener`	`init ( IInvocationContext context, ITestInvocationListener listener)` 使用當前上下文以及將結果轉發到何處來初始化收集器。
`abstract void`	`onTestAssumptionFailure ( DeviceMetricData testData, TestDescription test)` 當測試用例失敗且假設失敗時進行回調。
`abstract void`	`onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics)` `onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics)` 測試用例結束時的回調。
`abstract void`	`onTestFail ( DeviceMetricData testData, TestDescription test)` 測試用例失敗時回調。
`abstract void`	`onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)` `onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)` 測試運行結束時回調。
`abstract void`	`onTestRunStart ( DeviceMetricData runData)` 測試運行開始時的回調。
`abstract void`	`onTestStart ( DeviceMetricData testData)` 測試用例啟動時的回調。

公開方法

getBuildInfos

public abstract  getBuildInfos ()

返回調用中可用的構建信息列表。

退貨

getDevices

public abstract  getDevices ()

返回調用中可用的設備列表。

退貨

getInvocationListener

public abstract ITestInvocationListener getInvocationListener ()

返回原始ITestInvocationListener ，我們在其中轉發結果。

退貨
`ITestInvocationListener`

在裡面

public abstract ITestInvocationListener init ( IInvocationContext context, 
                ITestInvocationListener listener)

使用當前上下文以及將結果轉發到何處來初始化收集器。每個實例僅被調用一次，並且收集器應更新其內部上下文和偵聽器。永遠不會在測試運行之前調用Init。

除非您知道自己在做什麼，否則不要覆蓋。

參量
`context`	`IInvocationContext` ： `IInvocationContext`的調用的`IInvocationContext` 。
`listener`	`ITestInvocationListener` ：將結果`ITestInvocationListener`哪裡的`ITestInvocationListener` 。

退貨
`ITestInvocationListener`	新的監聽器包裝了原來的監聽器。

onTestAssumptionFailure

public abstract void onTestAssumptionFailure ( DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

當測試用例失敗且假設失敗時進行回調。

參量
`testData`	`DeviceMetricData` ：保存測試用例數據的`DeviceMetricData` 。
`test`	`TestDescription` ： `TestDescription`的測試用例的`TestDescription` 。

onTestEnd

public abstract void onTestEnd ( DeviceMetricData testData, 
                 currentTestCaseMetrics)

測試用例結束時的回調。這應該是清理的時間。

參量
`testData`	`DeviceMetricData` ：保存測試用例數據的`DeviceMetricData` 。與`onTestStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)`期間的對象相同。
`currentTestCaseMetrics`	：傳遞給`ERROR(/#testEnded(com.android.tradefed.result.TestDescription,Map))`的度量的當前映射。

onTestFail

public abstract void onTestFail ( DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

測試用例失敗時回調。

參量
`testData`	`DeviceMetricData` ：保存測試用例數據的`DeviceMetricData` 。
`test`	`TestDescription` ： `TestDescription`的測試用例的`TestDescription` 。

onTestRunEnd

public abstract void onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, 
                 currentRunMetrics)

測試運行結束時回調。這應該是清理的時間。

參量
`runData`	`DeviceMetricData` ：保存運行數據的`DeviceMetricData` 。與`onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)`期間的對象相同。
`currentRunMetrics`	：傳遞給`ERROR(/#testRunEnded(long,Map))`的度量的當前映射。

onTestRunStart

public abstract void onTestRunStart ( DeviceMetricData runData)

測試運行開始時的回調。

參量
`runData`	`DeviceMetricData` ：保存運行數據的`DeviceMetricData` 。

onTestStart

public abstract void onTestStart ( DeviceMetricData testData)

啟動測試用例時的回調。

參量
`testData`	`DeviceMetricData` ：保存測試用例數據的`DeviceMetricData` 。