IMetricCollector

public interface IMetricCollector
implements ITestInvocationListener, IDisableable

com.android.tradefed.device.metric.IMetricCollector

已知的間接子類

BaseDeviceMetricCollector	`IMetricCollector`基本實現，它允許在`onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)`和`ERROR(/#onTestRunEnd(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData,Map))`上啟動和停止收集。
BugreportzOnFailureCollector	測試用例失敗時收集錯誤報告。
DebugHostLogOnFailureCollector	當發生測試用例失敗時，收集器將收集並記錄主機端日誌。
FilePullerDeviceMetricCollector	一個`BaseDeviceMetricCollector` ，它偵聽來自設備的指標密鑰，並將其作為文件從設備中拉出。
FilePullerLogCollector	設備端報告的文件的記錄器。
IncidentReportCollector	如果配置為這樣做，則在測試運行結束時提取並處理在設備端報告的事件報告，並在主機端收集事件報告。
LogcatOnFailureCollector	當測試用例失敗時，將捕獲並記錄logcat的收集器。
ScreenshotOnFailureCollector	當測試用例失敗時，收集器將捕獲並記錄屏幕截圖。

報告測試結果時，此接口將作為裝飾器添加，以收集匹配的指標。

此接口不能用作即使它擴展了ITestInvocationListener 。配置檢查將拒絕它。它必須用作“ metrics_collector”。

收集器不應保持內部狀態，因為它們可能會在多個地方重複使用。如果確實必須使用內部狀態，則應在init(com.android.tradefed.invoker.IInvocationContext, com.android.tradefed.result.ITestInvocationListener)上對其進行清理。

概要

公開方法
`abstract`	`getBuildInfos ()` 返回調用中可用的構建信息列表。
`abstract`	`getDevices ()` 返回調用中可用的設備列表。
`abstract ITestInvocationListener`	`getInvocationListener ()` 返回原始`ITestInvocationListener` ，我們在其中轉發結果。
`abstract ITestInvocationListener`	`init (IInvocationContext context, ITestInvocationListener listener)` 使用當前上下文以及將結果轉發到何處來初始化收集器。
`abstract void`	`onTestAssumptionFailure ( DeviceMetricData testData, TestDescription test)` 當測試用例失敗且假設失敗時進行回調。
`abstract void`	`onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics)` `onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics)` 測試用例結束時的回調。
`abstract void`	`onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics, TestDescription test)` `onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics, TestDescription test)` 測試用例結束時的回調。
`abstract void`	`onTestFail ( DeviceMetricData testData, TestDescription test)` 測試用例失敗時回調。
`abstract void`	`onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)` `onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)` 測試運行結束時回調。
`abstract void`	`onTestRunStart ( DeviceMetricData runData)` 開始測試運行時的回調。
`abstract void`	`onTestStart ( DeviceMetricData testData)` 測試用例啟動時的回調。

public abstract  getBuildInfos ()

返回調用中可用的構建信息列表。

退貨

public abstract  getDevices ()

返回調用中可用的設備列表。

退貨

public abstract ITestInvocationListener getInvocationListener ()

返回原始ITestInvocationListener ，我們在其中轉發結果。

退貨
`ITestInvocationListener`

public abstract ITestInvocationListener init (IInvocationContext context, 
                ITestInvocationListener listener)

使用當前上下文以及將結果轉發到何處來初始化收集器。每個實例僅被調用一次，並且收集器應更新其內部上下文和偵聽器。永遠不會在測試運行之前調用Init。

除非您知道自己在做什麼，否則不要覆蓋。

參量
`context`	`IInvocationContext` ： `IInvocationContext`的調用的`IInvocationContext` 。
`listener`	`ITestInvocationListener` ：將結果`ITestInvocationListener`哪裡的`ITestInvocationListener` 。

退貨
`ITestInvocationListener`	新的監聽器包裝了原來的監聽器。

public abstract void onTestAssumptionFailure (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

當測試用例失敗且假設失敗時進行回調。

參量
`testData`	`DeviceMetricData` ：保存測試用例數據的`DeviceMetricData` 。
`test`	`TestDescription` ： `TestDescription`的測試用例的`TestDescription` 。

public abstract void onTestEnd (DeviceMetricData testData, 
                 currentTestCaseMetrics)

測試用例結束時的回調。這應該是清理的時間。

參量
`testData`	`DeviceMetricData` ：保存測試用例數據的`DeviceMetricData` 。與`onTestStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)`期間的對象相同。
`currentTestCaseMetrics`	：傳遞給`ITestLifeCycleReceiver.testEnded(com.android.tradefed.result.TestDescription, Map)`的度量的當前映射。

public abstract void onTestEnd (DeviceMetricData testData, 
                 currentTestCaseMetrics, 
                TestDescription test)

測試用例結束時的回調。這應該是清理的時候了。

參量
`testData`	`DeviceMetricData` ：保存測試用例數據的`DeviceMetricData` 。與`onTestStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)`期間的對象相同。
`currentTestCaseMetrics`	：傳遞給`ITestLifeCycleReceiver.testEnded(com.android.tradefed.result.TestDescription, Map)`的度量的當前映射。
`test`	`TestDescription` ： `TestDescription`的測試用例的`TestDescription` 。

public abstract void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

測試用例失敗時回調。

參量
`testData`	`DeviceMetricData` ：保存測試用例數據的`DeviceMetricData` 。
`test`	`TestDescription` ： `TestDescription`的測試用例的`TestDescription` 。

public abstract void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData, 
                 currentRunMetrics)

測試運行結束時回調。這應該是清理的時間。

參量
`runData`	`DeviceMetricData` ：保存運行數據的`DeviceMetricData` 。將與`onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)`期間的對象相同。
`currentRunMetrics`	：傳遞給`ITestLifeCycleReceiver.testRunEnded(long, Map)`的度量的當前映射。

public abstract void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

開始測試運行時的回調。

參量
`runData`	`DeviceMetricData` ：保存運行數據的`DeviceMetricData` 。

public abstract void onTestStart (DeviceMetricData testData)

測試用例啟動時的回調。

參量
`testData`	`DeviceMetricData` ：保存測試用例數據的`DeviceMetricData` 。